半导体激光器老化测试控制系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020590842.4

申请日：

2010-11-04

公开(公告)号：

CN201853943U

公开(公告)日：

2011-06-01

发明(设计)人：

穆宏伟张彩

申请人：

申请人地址：

116600 辽宁省大连市经济技术开发区辽河东路88号树源科技园12号厂房

IPC主分类号：

H01S500

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

大连星海专利事务所 21208

代理人：

于忠晶

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-06-01	授权	授权
2014-12-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101592583433 IPC(主分类):H01S 5/00 专利号:ZL2010205908424 申请日:20101104 授权公告日:20110601 终止日期:20131104

共 50 条

[1]

半导体激光器控制系统 [P].

黄彩妹 ;

钟绪浪 ;

梁其能 ;

朱正余 ;

朱宝华 ;

王瑾 ;

高云峰 .

中国专利 :CN108075351A ,2018-05-25

[2]

半导体激光器控制系统 [P].

李培丽 ;

孙琳 .

中国专利 :CN118508226A ,2024-08-16

[3]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

赵森 .

中国专利 :CN114594358A ,2022-06-07

[4]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

赵森 .

中国专利 :CN114594358B ,2025-03-21

[5]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759A ,2025-07-08

[6]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759B ,2025-09-26

[7]

用于半导体激光器的控制系统 [P].

周峰 ;

杨庆东 ;

张延亮 ;

苏伦昌 ;

董春春 ;

澹台凡亮 ;

康民强 .

中国专利 :CN203503973U ,2014-03-26

[8]

半导体激光器的测试系统 [P].

钟绪浪 ;

朱宝华 ;

王瑾 ;

陆业钊 ;

高云峰 .

中国专利 :CN106679937A ,2017-05-17

[9]

半导体激光器老化测试方法及装置 [P].

惠利省 ;

詹小红 .

中国专利 :CN115078887B ,2022-09-20

[10]

半导体激光器温度控制系统 [P].

楼祺洪 ;

张寿棋 ;

周军 ;

董景星 ;

魏运荣 .

中国专利 :CN100527036C ,2008-05-07

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