半导体激光器老化测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210060957.X

申请日：

2022-01-19

公开(公告)号：

CN114594358B

公开(公告)日：

2025-03-21

发明(设计)人：

赵森

申请人：

深圳活力激光技术有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区福海街道新和社区福园一路35号天瑞工业园A2栋301

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/01 G01R1/02

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

何倚雯

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-21	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

赵森 .

中国专利 :CN114594358A ,2022-06-07

[2]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759A ,2025-07-08

[3]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759B ,2025-09-26

[4]

半导体激光器老化测试方法及装置 [P].

惠利省 ;

詹小红 .

中国专利 :CN115078887B ,2022-09-20

[5]

一种半导体激光器自动老化测试系统 [P].

占临风 ;

李廷安 ;

马伟 .

中国专利 :CN117590121A ,2024-02-23

[6]

半导体激光器老化测试控制系统 [P].

穆宏伟 ;

张彩 .

中国专利 :CN201853943U ,2011-06-01

[7]

半导体激光器测试系统 [P].

刘兴胜 ;

刘晖 ;

王昊 .

中国专利 :CN303490424S ,2015-12-09

[8]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN104880298B ,2015-09-02

[9]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN204666336U ,2015-09-23

[10]

一种非致冷半导体激光器的老化测试系统 [P].

崔琳 ;

张彩 .

中国专利 :CN203643537U ,2014-06-11

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