一种非致冷半导体激光器的老化测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420001637.8

申请日：

2014-01-02

公开(公告)号：

CN203643537U

公开(公告)日：

2014-06-11

发明(设计)人：

崔琳张彩

申请人：

申请人地址：

116000 辽宁省大连市高新园区火炬路35号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01M1100

代理机构：

大连博晟专利代理事务所(特殊普通合伙) 21236

代理人：

于忠晶

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-06-11	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

赵森 .

中国专利 :CN114594358A ,2022-06-07

[2]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

赵森 .

中国专利 :CN114594358B ,2025-03-21

[3]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759A ,2025-07-08

[4]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759B ,2025-09-26

[5]

一种半导体激光器自动老化测试系统 [P].

占临风 ;

李廷安 ;

马伟 .

中国专利 :CN117590121A ,2024-02-23

[6]

一种半导体激光器老化考评测试系统及其应用 [P].

宫安亮 .

中国专利 :CN117969995A ,2024-05-03

[7]

半导体激光器老化测试控制系统 [P].

穆宏伟 ;

张彩 .

中国专利 :CN201853943U ,2011-06-01

[8]

半导体激光器测试系统 [P].

刘兴胜 ;

刘晖 ;

王昊 .

中国专利 :CN303490424S ,2015-12-09

[9]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN104880298B ,2015-09-02

[10]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN204666336U ,2015-09-23

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