一种元器件温度特性测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910062378.7

申请日：

2019-01-23

公开(公告)号：

CN110231521A

公开(公告)日：

2019-09-13

发明(设计)人：

何光宏叶大梧韩忠谭红兵

申请人：

申请人地址：

400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R2702

代理机构：

重庆缙云专利代理事务所(特殊普通合伙) 50237

代理人：

王翔

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20190123
2019-09-13	公开	公开

共 50 条

[1]

一种元器件件温度特性测试装置 [P].

何光宏 ;

叶大梧 ;

韩忠 ;

谭红兵 .

中国专利 :CN209707614U ,2019-11-29

[2]

新型电子材料及元器件温度特性测试装置 [P].

袁战恒 ;

姚熹 .

中国专利 :CN87208283U ,1988-03-09

[3]

介质材料及元器件温度特性辅助测试装置 [P].

袁战恒 ;

姚熹 ;

孟中岩 .

中国专利 :CN85102036B ,1988-06-01

[4]

一种电子元器件温度特性测试方法 [P].

陈昌灯 ;

陈骑昆 ;

吴同参 ;

王延凯 ;

曾丽娥 ;

林春水 ;

苏丽芬 ;

范顺香 ;

吴炜楠 .

中国专利 :CN117686119A ,2024-03-12

[5]

一种电子元器件温度特性测试方法 [P].

陈昌灯 ;

陈骑昆 ;

吴同参 ;

王延凯 ;

曾丽娥 ;

林春水 ;

苏丽芬 ;

范顺香 ;

吴炜楠 .

中国专利 :CN117686119B ,2025-11-14

[6]

一种元器件测试装置 [P].

袁世文 ;

徐金成 ;

拉巴顿珠 ;

徐红金 ;

杨琪 ;

袁卫 ;

王飞 ;

彭海洋 ;

张明 ;

余凡 ;

刘正明 ;

色珍 ;

白玛次仁 ;

耿杰 ;

立若旺姆 ;

刘婷婷 ;

张鑫 .

中国专利 :CN217111997U ,2022-08-02

[7]

电子元器件温度检测测试装置 [P].

金山 ;

胡少华 ;

张艳 ;

淡亚鹏 ;

张凡 ;

马肖肖 ;

员佩 ;

梁妙妙 ;

袁娜 .

中国专利 :CN222280762U ,2024-12-31

[8]

一种电子元器件测试装置 [P].

潘帮哲 ;

刘静 ;

谭吉涛 ;

谭丽娟 .

中国专利 :CN217901908U ,2022-11-25

[9]

一种元器件测试装置 [P].

杨校华 ;

刘兵 ;

李旭东 .

中国专利 :CN207866918U ,2018-09-14

[10]

一种元器件测试装置中的探针组、元器件测试装置 [P].

吉明阳 ;

陈建业 .

中国专利 :CN204214905U ,2015-03-18

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