一种连续光谱散射式颗粒测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310281213.1

申请日：

2013-07-05

公开(公告)号：

CN103308432B

公开(公告)日：

2013-09-18

发明(设计)人：

魏永杰李春雨刘翠翠

申请人：

申请人地址：

300130 天津市红桥区光荣道8号

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

G01N1506

代理机构：

天津佳盟知识产权代理有限公司 12002

代理人：

李益书

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-10-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101531532944 IPC(主分类):G01N 15/02 专利申请号:2013102812131 申请日:20130705
2013-09-18	公开	公开
2022-06-14	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20130705 授权公告日:20150624 终止日期:20210705
2015-06-24	授权	授权

共 50 条

[1]

双通道宽波段棱镜式连续光谱测量仪及其测量方法 [P].

薛萍 ;

何海 ;

王宏民 .

中国专利 :CN110132414A ,2019-08-16

[2]

一种超连续光谱的光纤多点位远程测量气体装置及测量方法 [P].

张荣文 ;

张振峰 ;

王舒惠 ;

张大志 ;

夏金宝 ;

宋成祥 .

中国专利 :CN117723499A ,2024-03-19

[3]

用于连续光谱双向散射分布函数的测量装置 [P].

汪洪源 ;

刘彬 ;

张伟 .

中国专利 :CN102854149A ,2013-01-02

[4]

一种连续光谱光源 [P].

陈刚 ;

刘念慈 ;

温中泉 ;

温志渝 .

中国专利 :CN102353630A ,2012-02-15

[5]

动态偏振光散射颗粒测量装置及测量方法 [P].

杨晖 ;

郑刚 ;

戴曙光 .

中国专利 :CN101699265A ,2010-04-28

[6]

纳米颗粒90度散射光谱的测量方法 [P].

白本锋 ;

杨国策 .

中国专利 :CN105092426B ,2015-11-25

[7]

一种主动式连续光谱遥测系统 [P].

潘冬宁 ;

武斌 .

中国专利 :CN114878520A ,2022-08-09

[8]

一种单颗粒暗场散射光谱的测量方法及测量装置 [P].

倪卫海 ;

张恒 ;

李浩 .

中国专利 :CN121027050A ,2025-11-28

[9]

散射测量方法及散射测量装置 [P].

邹峥 ;

贺军 ;

吴乐忠 .

中国专利 :CN118464843B ,2024-11-15

[10]

散射测量方法及散射测量装置 [P].

邹峥 ;

贺军 ;

吴乐忠 .

中国专利 :CN118464843A ,2024-08-09

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