一种显微表面测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110335304.3

申请日：

2021-03-29

公开(公告)号：

CN113029033A

公开(公告)日：

2021-06-25

发明(设计)人：

王道档阮旸孔明刘维许新科刘璐郭天太

申请人：

申请人地址：

310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

G01B1116

代理机构：

杭州钤韬知识产权代理事务所(普通合伙) 33329

代理人：

唐灵;赵杰香

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-25	公开	公开
2021-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20210329

共 50 条

[1]

一种基于光学偏折的显微大动态范围微透镜测量方法 [P].

阮旸 ;

孔明 ;

王道档 ;

禹静 .

中国专利 :CN115388807A ,2022-11-25

[2]

一种显微测量系统和显微测量方法 [P].

黄秀金 ;

方仲平 ;

陈洪明 .

中国专利 :CN120467177A ,2025-08-12

[3]

一种显微测量系统及显微测量方法 [P].

李红兵 ;

刘娜娜 ;

李海宏 ;

陈雪丹 .

中国专利 :CN111678429B ,2020-09-18

[4]

测量装置及测量方法 [P].

崔志坚 ;

杜继臻 ;

周权 ;

张亮 ;

王文栋 ;

吴志祥 ;

吴长青 .

中国专利 :CN114137303A ,2022-03-04

[5]

测量装置及测量方法 [P].

梅海文 ;

王祁远 ;

王慧 ;

王紫宽 .

中国专利 :CN120722346A ,2025-09-30

[6]

测量装置及测量方法 [P].

孙中兰 .

中国专利 :CN103575292A ,2014-02-12

[7]

测量装置及测量方法 [P].

施向舟 .

中国专利 :CN110986858A ,2020-04-10

[8]

测量装置及测量方法 [P].

崔志坚 ;

杜继臻 ;

周权 ;

张亮 ;

王文栋 ;

吴志祥 ;

吴长青 .

中国专利 :CN114137303B ,2024-03-01

[9]

一种光学表面亚表层损伤测量装置和测量方法 [P].

田爱玲 ;

王春慧 ;

王红军 ;

刘丙才 .

中国专利 :CN101949839A ,2011-01-19

[10]

一种放射治疗剂量测量装置及测量方法 [P].

汤晓斌 ;

舒迪昀 ;

龚频 ;

耿长冉 ;

陈达 .

中国专利 :CN105435377A ,2016-03-30

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