一种基于光学偏折的显微大动态范围微透镜测量方法

被引:0
申请号
CN202211004603.X
申请日
2022-08-22
公开(公告)号
CN115388807A
公开(公告)日
2022-11-25
发明(设计)人
阮旸 孔明 王道档 禹静
申请人
申请人地址
310000 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
IPC主分类号
G01B1125
IPC分类号
G01B904
代理机构
北京中济纬天专利代理有限公司 11429
代理人
陈月红
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种显微表面测量装置及测量方法 [P]. 
王道档 ;
阮旸 ;
孔明 ;
刘维 ;
许新科 ;
刘璐 ;
郭天太 .
中国专利 :CN113029033A ,2021-06-25
[2]
一种光学偏折瞬态测量方法 [P]. 
王道档 ;
卢毅伟 ;
孔明 ;
相超 ;
许新科 ;
赵军 ;
刘维 ;
郭天太 .
中国专利 :CN110793440A ,2020-02-14
[3]
一种无网格大动态范围哈特曼波前测量装置及测量方法 [P]. 
蒋志雄 ;
周文超 ;
魏继锋 ;
黄德权 ;
彭琛 ;
解平 ;
常艳 ;
李光 ;
严伟 ;
雷德川 ;
沙子杰 ;
魏蔚 .
中国专利 :CN114777933A ,2022-07-22
[4]
一种大动态范围光器件测量方法及测量系统 [P]. 
潘时龙 ;
薛敏 ;
李树鹏 .
中国专利 :CN105606343A ,2016-05-25
[5]
一种微透射元件多面形大动态范围同步测量方法 [P]. 
王道档 ;
吴振东 ;
孔明 ;
付翔宇 ;
许新科 ;
赵军 ;
刘维 ;
郭天太 .
中国专利 :CN110793465B ,2020-02-14
[6]
大动态测量范围的波前测量系统及其测量方法 [P]. 
王何立颖 .
中国专利 :CN104101435A ,2014-10-15
[7]
一种大动态范围的磁场测量系统及测量方法 [P]. 
嵇艳鞠 ;
杜尚宇 ;
邱硕 .
中国专利 :CN106405451A ,2017-02-15
[8]
一种光学偏折显微表面测量装置及方法 [P]. 
王道档 ;
吴振东 ;
孔明 ;
付翔宇 ;
许新科 ;
赵军 ;
刘维 ;
郭天太 .
中国专利 :CN110763159A ,2020-02-07
[9]
基于数字微镜的大动态激光远场焦斑测量系统及测量方法 [P]. 
袁索超 ;
李红光 ;
达争尚 .
中国专利 :CN106248353B ,2016-12-21
[10]
一种大动态范围模拟电信号测量方法 [P]. 
李海涛 ;
杨少华 ;
田耕 ;
罗通顶 ;
李斌康 ;
渠红光 ;
阮林波 ;
张雁霞 ;
王晶 ;
吕宗璟 ;
赵前 .
中国专利 :CN118473405A ,2024-08-09