一种光学偏折显微表面测量装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911061488.8

申请日：

2019-11-01

公开(公告)号：

CN110763159A

公开(公告)日：

2020-02-07

发明(设计)人：

王道档吴振东孔明付翔宇许新科赵军刘维郭天太

申请人：

申请人地址：

310018 浙江省台州市温岭市温峤镇温岭市科技企业孵化器5幢401室

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

杭州钤韬知识产权代理事务所(普通合伙) 33329

代理人：

赵杰香;唐灵

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20191101
2021-08-06	授权	授权
2021-06-15	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01B 11/25 变更事项:申请人变更前:中国计量大学变更后:中国计量大学变更事项:地址变更前:310018 浙江省台州市温岭市温峤镇温岭市科技企业孵化器5幢401室变更后:310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
2020-02-07	公开	公开

共 50 条

[1]

一种显微表面测量装置及测量方法 [P].

王道档 ;

阮旸 ;

孔明 ;

刘维 ;

许新科 ;

刘璐 ;

郭天太 .

中国专利 :CN113029033A ,2021-06-25

[2]

一种基于光学偏折的显微大动态范围微透镜测量方法 [P].

阮旸 ;

孔明 ;

王道档 ;

禹静 .

中国专利 :CN115388807A ,2022-11-25

[3]

一种光学偏折瞬态测量方法 [P].

王道档 ;

卢毅伟 ;

孔明 ;

相超 ;

许新科 ;

赵军 ;

刘维 ;

郭天太 .

中国专利 :CN110793440A ,2020-02-14

[4]

一种平曲面透射元件表面的高精度大动态范围测量方法及测量系统 [P].

王道档 ;

徐平 ;

解钟敏 ;

孔明 ;

赵军 ;

许新科 ;

刘维 ;

郭天太 .

中国专利 :CN108507492A ,2018-09-07

[5]

一种显微测量系统及显微测量方法 [P].

李红兵 ;

刘娜娜 ;

李海宏 ;

陈雪丹 .

中国专利 :CN111678429B ,2020-09-18

[6]

一种光学测量装置及光学测量方法 [P].

赵连军 ;

韩欣欣 ;

李致廷 ;

李德俊 ;

边宗丽 .

中国专利 :CN119688251A ,2025-03-25

[7]

偏折测量方法 [P].

伊夫·苏雷尔 .

法国专利 :CN118679360A ,2024-09-20

[8]

一种光学元件表面测量装置及方法 [P].

高勋 ;

黄建兵 ;

于海龙 ;

黄建明 ;

潘亚雷 .

中国专利 :CN119334268A ,2025-01-21

[9]

一种光学元件表面测量装置及方法 [P].

高勋 ;

黄建兵 ;

于海龙 ;

黄建明 ;

潘亚雷 .

中国专利 :CN119334268B ,2025-05-27

[10]

一种多模式光学在线测量装置及测量方法 [P].

张宇 .

中国专利 :CN112710251B ,2021-04-27

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