偏折测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280086152.0

申请日：

2022-11-28

公开(公告)号：

CN118679360A

公开(公告)日：

2024-09-20

发明(设计)人：

伊夫·苏雷尔

申请人：

怀斯莱特公司

申请人地址：

法国圣艾蒂安

IPC主分类号：

G01B11/25

IPC分类号：

G01B5/00 G01N21/958

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

韩玉洁

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-20	公开	公开
2024-11-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/25申请日:20221128

共 50 条

[1]

用于偏折测量的超景深镜头及其偏折测量系统与测量方法 [P].

吴珍 ;

魏朝阳 ;

牛振岐 ;

王生水 ;

李晓琳 .

中国专利 :CN115371585A ,2022-11-22

[2]

偏芯量测量方法 [P].

孙萍 .

中国专利 :CN100588934C ,2006-12-13

[3]

一种光学偏折瞬态测量方法 [P].

王道档 ;

卢毅伟 ;

孔明 ;

相超 ;

许新科 ;

赵军 ;

刘维 ;

郭天太 .

中国专利 :CN110793440A ,2020-02-14

[4]

一种偏振相位偏折测量方法和装置 [P].

蔡昂 ;

赵娟 ;

万由滕 ;

魏琦 ;

宋展 .

中国专利 :CN113029040B ,2021-06-25

[5]

一种同轴正入射散斑偏折术测量方法和装置 [P].

郝群 ;

胡摇 ;

张玉 .

中国专利 :CN114674244A ,2022-06-28

[6]

一种基于光学偏折的显微大动态范围微透镜测量方法 [P].

阮旸 ;

孔明 ;

王道档 ;

禹静 .

中国专利 :CN115388807A ,2022-11-25

[7]

一种利用相位测量偏折术的光学透镜波前测量方法 [P].

王维 ;

岳慧敏 ;

覃添 ;

刘永 .

中国专利 :CN111537203A ,2020-08-14

[8]

一种基于偏折术的透镜梯度折射率分布测量方法 [P].

李大海 ;

张泽坤 ;

王瑞阳 ;

葛忍好 ;

郑万兴 ;

陈镘蔚 .

中国专利 :CN121163830A ,2025-12-19

[9]

一种共基准双镜面物体相位偏折测量方法 [P].

张宗华 ;

何雯静 ;

王张颖 ;

高楠 ;

孟召宗 ;

倪育博 .

中国专利 :CN119197309A ,2024-12-27

[10]

一种基于四步移相的相位偏折测量方法及装置 [P].

肖浪 ;

樊庆文 ;

裴宏亮 ;

张明韬 ;

张启迪 .

中国专利 :CN120576681A ,2025-09-02

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