一种共基准双镜面物体相位偏折测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411306630.1

申请日：

2024-09-19

公开(公告)号：

CN119197309A

公开(公告)日：

2024-12-27

发明(设计)人：

张宗华何雯静王张颖高楠孟召宗倪育博

申请人：

河北工业大学

申请人地址：

300401 天津市北辰区西平道5340号

IPC主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G06T7/73

代理机构：

天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210

代理人：

王瑞

法律状态：

公开

国省代码：

河北省廊坊市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-27	公开	公开
2025-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/00申请日:20240919

共 50 条

[1]

双镜面标定板及基于该标定板的共基准双镜面相位偏折测量系统的标定方法 [P].

张宗华 ;

靳钰 ;

王张颖 ;

何雯静 ;

高楠 ;

孟召宗 ;

倪育博 .

中国专利 :CN119289895A ,2025-01-10

[2]

基于曲面屏相位偏折的大曲率镜面三维形貌测量方法 [P].

张宗华 ;

刘丞 ;

高楠 ;

孟召宗 .

中国专利 :CN113280755B ,2021-08-20

[3]

一种偏振相位偏折测量方法和装置 [P].

蔡昂 ;

赵娟 ;

万由滕 ;

魏琦 ;

宋展 .

中国专利 :CN113029040B ,2021-06-25

[4]

一种基于四步移相的相位偏折测量方法及装置 [P].

肖浪 ;

樊庆文 ;

裴宏亮 ;

张明韬 ;

张启迪 .

中国专利 :CN120576681A ,2025-09-02

[5]

偏折测量方法 [P].

伊夫·苏雷尔 .

法国专利 :CN118679360A ,2024-09-20

[6]

用于偏折测量的超景深镜头及其偏折测量系统与测量方法 [P].

吴珍 ;

魏朝阳 ;

牛振岐 ;

王生水 ;

李晓琳 .

中国专利 :CN115371585A ,2022-11-22

[7]

一种多频相移相位偏折透明物体表面形貌测量方法 [P].

张宗华 ;

王张颖 ;

李奎 ;

宿朝阳 ;

高楠 ;

孟召宗 ;

倪育博 .

中国专利 :CN118031848A ,2024-05-14

[8]

一种基准阵列测量系统和测量方法 [P].

闫占功 ;

杨宇光 ;

高建远 ;

盛晶晶 .

中国专利 :CN101782358B ,2010-07-21

[9]

一种用于透明件的表面动态相位偏折测量方法 [P].

张效栋 ;

闫宁 .

中国专利 :CN116678345B ,2024-07-09

[10]

一种基于曲面屏的相位偏折测量方法、系统及终端 [P].

宋展 ;

韩浩 .

中国专利 :CN113654765A ,2021-11-16

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