一种用于透明件的表面动态相位偏折测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310660464.4

申请日：

2023-06-06

公开(公告)号：

CN116678345B

公开(公告)日：

2024-07-09

发明(设计)人：

张效栋闫宁

申请人：

天津大学

申请人地址：

300110 天津市南开区卫津路92号

IPC主分类号：

G01B11/24

IPC分类号：

G01M11/02 G06T7/73 G06T7/00

代理机构：

北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246

代理人：

杜雅欣

法律状态：

授权

国省代码：

天津市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-09	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于相位偏折测量的透明元件前后表面相位分离方法 [P].

张祥朝 ;

叶俊强 ;

牛振岐 ;

王伟 ;

徐敏 .

中国专利 :CN110411376B ,2019-11-05

[2]

一种多频相移相位偏折透明物体表面形貌测量方法 [P].

张宗华 ;

王张颖 ;

李奎 ;

宿朝阳 ;

高楠 ;

孟召宗 ;

倪育博 .

中国专利 :CN118031848A ,2024-05-14

[3]

一种偏振相位偏折测量方法和装置 [P].

蔡昂 ;

赵娟 ;

万由滕 ;

魏琦 ;

宋展 .

中国专利 :CN113029040B ,2021-06-25

[4]

一种透明件表面面形测量方法 [P].

张效栋 ;

闫宁 .

中国专利 :CN115371577B ,2024-12-06

[5]

一种基于曲面屏的相位偏折测量方法、系统及终端 [P].

宋展 ;

韩浩 .

中国专利 :CN113654765A ,2021-11-16

[6]

基于双通道分区投影的透明元件双表面偏折测量方法 [P].

刘志平 ;

叶颖 ;

李煜 .

中国专利 :CN118671074A ,2024-09-20

[7]

用于偏折测量的超景深镜头及其偏折测量系统与测量方法 [P].

吴珍 ;

魏朝阳 ;

牛振岐 ;

王生水 ;

李晓琳 .

中国专利 :CN115371585A ,2022-11-22

[8]

一种透明件表面发光点提取方法及面形测量方法 [P].

张效栋 ;

闫宁 .

中国专利 :CN115371577A ,2022-11-22

[9]

一种共基准双镜面物体相位偏折测量方法 [P].

张宗华 ;

何雯静 ;

王张颖 ;

高楠 ;

孟召宗 ;

倪育博 .

中国专利 :CN119197309A ,2024-12-27

[10]

一种基于四步移相的相位偏折测量方法及装置 [P].

肖浪 ;

樊庆文 ;

裴宏亮 ;

张明韬 ;

张启迪 .

中国专利 :CN120576681A ,2025-09-02

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