一种透明件表面面形测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110557522.1

申请日：

2021-05-21

公开(公告)号：

CN115371577B

公开(公告)日：

2024-12-06

发明(设计)人：

张效栋闫宁

申请人：

天津大学

申请人地址：

300000 天津市南开区卫津路92号

IPC主分类号：

G01B11/16

IPC分类号：

G06T7/70

代理机构：

北京沁优知识产权代理有限公司 11684

代理人：

甄丹凤

法律状态：

授权

国省代码：

天津市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-06	授权	授权

共 50 条

[1]

一种透明件表面发光点提取方法及面形测量方法 [P].

张效栋 ;

闫宁 .

中国专利 :CN115371577A ,2022-11-22

[2]

光滑表面面型测量方法 [P].

闫佩正 ;

王永红 ;

孙方圆 ;

但西佐 ;

卢宇 ;

赵琪涵 ;

钟诗民 .

中国专利 :CN108759720A ,2018-11-06

[3]

一种光学元件双表面面形测量方法 [P].

刘磊 ;

张效栋 ;

李泽骁 ;

王冬雪 ;

李卓桐 ;

张宏舜 .

中国专利 :CN117146736B ,2024-08-23

[4]

一种大尺寸反光表面测量方法 [P].

张效栋 ;

闫宁 .

中国专利 :CN115218813B ,2024-11-08

[5]

一种用于透明件的表面动态相位偏折测量方法 [P].

张效栋 ;

闫宁 .

中国专利 :CN116678345B ,2024-07-09

[6]

基于频率盲估计的多表面面形测量方法 [P].

常林 ;

郑维伟 ;

于瀛洁 ;

闫恪涛 ;

徐瞿磊 ;

孙涛 ;

王陈 .

中国专利 :CN112097678B ,2020-12-18

[7]

基于多波长测头的半球谐振子表面面形测量方法 [P].

李世杰 ;

张泊泊 ;

石煜明 ;

黄岳田 ;

刘丙才 ;

朱学亮 ;

梁海锋 ;

蔡长龙 .

中国专利 :CN120488999A ,2025-08-15

[8]

一种光学平面面形的绝对干涉测量方法 [P].

陈凌峰 ;

任雅青 ;

李杰 ;

周桃庚 .

中国专利 :CN101762242A ,2010-06-30

[9]

一种陶瓷生瓷片表面测量方法及测量系统 [P].

金士渊 ;

周志敏 ;

杨雪蛟 ;

黄俊煜 ;

陈世栋 ;

余舒婷 .

中国专利 :CN118566250A ,2024-08-30

[10]

一种非接触光学元件表面面形测量装置 [P].

李潇潇 ;

张志恒 ;

张效宇 ;

曹杰君 ;

曹兆楼 ;

咸冯林 .

中国专利 :CN209623618U ,2019-11-12

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