一种基准阵列测量系统和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910045880.3

申请日：

2009-01-21

公开(公告)号：

CN101782358B

公开(公告)日：

2010-07-21

发明(设计)人：

闫占功杨宇光高建远盛晶晶

申请人：

申请人地址：

201206 上海市浦东新区申江路1500号

IPC主分类号：

G01B5004

IPC分类号：

代理机构：

北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012

代理人：

黄泽雄;崔华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-07-21	公开	公开
2022-12-30	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 5/004 申请日:20090121 授权公告日:20130109 终止日期:20220121
2013-01-09	授权	授权
2010-09-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101005821711 IPC(主分类):G01B 5/004 专利申请号:2009100458803 申请日:20090121

共 50 条

[1]

一种测量方法、测量系统及测量设备 [P].

陈鲁 ;

刘欢敏 ;

贺金龙 ;

张嵩 .

中国专利 :CN117781923A ,2024-03-29

[2]

一种姿态测量方法和姿态测量系统 [P].

王聪 ;

汪名扬 ;

唐桂华 ;

蔡静 .

中国专利 :CN103885077A ,2014-06-25

[3]

基于相机阵列的测量方法及测量系统 [P].

江浩 .

中国专利 :CN107966100A ,2018-04-27

[4]

一种测量系统和测量方法 [P].

马若晨 ;

王政凯 ;

张玉胜 ;

张桂明 ;

熊建坤 ;

王卓南 ;

谷铁锋 ;

胡开吉 ;

陈萍 ;

刘章波 ;

彭桢 ;

羊小军 ;

张欣 ;

潘禹霖 ;

张凯 .

中国专利 :CN117570810A ,2024-02-20

[5]

一种测量系统和测量方法 [P].

陈鲁 ;

白园园 ;

马砚忠 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114608456B ,2024-10-15

[6]

一种测量系统和测量方法 [P].

陈鲁 ;

白园园 ;

陈驰 ;

马砚忠 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114562942A ,2022-05-31

[7]

一种测量系统和测量方法 [P].

陈鲁 ;

白园园 ;

马砚忠 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114562943A ,2022-05-31

[8]

一种测量系统和测量方法 [P].

陈鲁 ;

白园园 ;

马砚忠 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114608456A ,2022-06-10

[9]

一种测量系统和测量方法 [P].

葛正 ;

相宇阳 ;

俞胜武 .

中国专利 :CN120627924A ,2025-09-12

[10]

一种测量系统和测量方法 [P].

陈鲁 ;

白园园 ;

马砚忠 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114562943B ,2024-08-06

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