一种电子元器件检测的插拔耐久性检测装置

被引：0

申请号：

CN202220467861.0

申请日：

2022-03-04

公开(公告)号：

CN216899595U

公开(公告)日：

2022-07-05

发明(设计)人：

赵军友刘超吴兰星

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区嘉宾路4028号太平洋商贸大厦A座18A

IPC主分类号：

G01M1300

IPC分类号：

G01R3168

代理机构：

北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825

代理人：

李祥旗

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-05	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子元器件插拔耐久性试验装置 [P].

胡泊 ;

虞峻骅 ;

陈雨菲 .

中国专利 :CN211740597U ,2020-10-23

[2]

一种电子元器件检测平台 [P].

王永恒 ;

顾在意 ;

彭华新 ;

张翼飞 ;

庄须叶 .

中国专利 :CN218369891U ,2023-01-24

[3]

一种电子元器件的检测装置 [P].

姜冰 ;

符文浩 ;

尹雪婷 ;

曲丽萍 ;

曲英涛 .

中国专利 :CN223501062U ,2025-10-31

[4]

一种电子元器件检测装置 [P].

李静静 ;

谢瑞 ;

张东涛 ;

韩晓龙 .

中国专利 :CN216747965U ,2022-06-14

[5]

一种电子元器件检测装置 [P].

华梦泷 .

中国专利 :CN221224930U ,2024-06-25

[6]

一种电子元器件检测装置 [P].

徐洪庆 .

中国专利 :CN216310162U ,2022-04-15

[7]

一种关于电子元器件检测的装置 [P].

陈伟 ;

徐勇 ;

叶建国 ;

韩宙 .

中国专利 :CN216013549U ,2022-03-11

[8]

一种电子元器件的耐高温性能检测装置 [P].

赵虎政 ;

严定金 .

中国专利 :CN218331797U ,2023-01-17

[9]

一种电子元器件质量检测装置 [P].

马冉 ;

程俊铭 .

中国专利 :CN218297219U ,2023-01-13

[10]

一种电子元器件的密封性检测方法 [P].

王武斌 .

中国专利 :CN110887625A ,2020-03-17

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