一种电子元器件的密封性检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911034864.4

申请日：

2019-10-29

公开(公告)号：

CN110887625A

公开(公告)日：

2020-03-17

发明(设计)人：

王武斌

申请人：

申请人地址：

710000 陕西省西安市高新路25号高新商务5楼

IPC主分类号：

G01M336

IPC分类号：

代理机构：

西安科果果知识产权代理事务所(普通合伙) 61233

代理人：

李英俊

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-17	公开	公开
2021-01-22	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01M 3/36 申请公布日:20200317
2020-04-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 3/36 申请日:20191029

共 50 条

[1]

一种电子元器件的密封性检测方法 [P].

商亚锋 .

中国专利 :CN107976287A ,2018-05-01

[2]

一种电子元器件的密封性检测装置 [P].

刘春燕 ;

魏鹏 ;

刘凯 ;

李磊 .

中国专利 :CN216433392U ,2022-05-03

[3]

一种对于安装在线路板上的电子元器件的密封性检测方法 [P].

梁媛 .

中国专利 :CN106052981A ,2016-10-26

[4]

电子元器件的密封性测试设备 [P].

柳光福 ;

刘启明 ;

陈志安 .

中国专利 :CN201344853Y ,2009-11-11

[5]

一种用于电子元器件密封性测试的多工位检测系统 [P].

陈志福 ;

吴明招 .

中国专利 :CN118758520A ,2024-10-11

[6]

一种用于电子元器件密封性测试的多工位检测系统 [P].

陈志福 ;

吴明招 .

中国专利 :CN118758520B ,2024-11-01

[7]

一种电子元器件的密封性测试设备 [P].

柳光福 ;

刘启明 ;

陈志安 .

中国专利 :CN101514938A ,2009-08-26

[8]

一种电子元器件的密封性测试设备 [P].

刘伟东 ;

王文振 .

中国专利 :CN214702618U ,2021-11-12

[9]

一种电子元器件检测的插拔耐久性检测装置 [P].

赵军友 ;

刘超 ;

吴兰星 .

中国专利 :CN216899595U ,2022-07-05

[10]

一种电子元器件检测平台 [P].

王永恒 ;

顾在意 ;

彭华新 ;

张翼飞 ;

庄须叶 .

中国专利 :CN218369891U ,2023-01-24

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