一种电子元器件的密封性检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201711152523.8
申请日
2017-11-19
公开(公告)号
CN107976287A
公开(公告)日
2018-05-01
发明(设计)人
商亚锋
申请人
申请人地址
214500 江苏省泰州市靖江市马桥镇经伦路西1号
IPC主分类号
G01M326
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种对于安装在线路板上的电子元器件的密封性检测方法 [P]. 
梁媛 .
中国专利 :CN106052981A ,2016-10-26
[2]
一种电子元器件的密封性检测方法 [P]. 
王武斌 .
中国专利 :CN110887625A ,2020-03-17
[3]
一种电子元器件的密封性检测装置 [P]. 
刘春燕 ;
魏鹏 ;
刘凯 ;
李磊 .
中国专利 :CN216433392U ,2022-05-03
[4]
电子元器件的密封性测试设备 [P]. 
柳光福 ;
刘启明 ;
陈志安 .
中国专利 :CN201344853Y ,2009-11-11
[5]
以内部气体质谱分析检测元器件密封性的方法 [P]. 
王庚林 ;
李飞 ;
李宁博 ;
刘永敏 .
中国专利 :CN103542988B ,2014-01-29
[6]
一种用于电子元器件密封性测试的多工位检测系统 [P]. 
陈志福 ;
吴明招 .
中国专利 :CN118758520A ,2024-10-11
[7]
一种用于电子元器件密封性测试的多工位检测系统 [P]. 
陈志福 ;
吴明招 .
中国专利 :CN118758520B ,2024-11-01
[8]
一种电子元器件的密封性测试设备 [P]. 
柳光福 ;
刘启明 ;
陈志安 .
中国专利 :CN101514938A ,2009-08-26
[9]
一种电子元器件的密封性测试设备 [P]. 
刘伟东 ;
王文振 .
中国专利 :CN214702618U ,2021-11-12
[10]
一种电子元器件表面腐蚀层厚度的检测方法 [P]. 
肖运彬 ;
陈兰 ;
彭博 ;
徐焕翔 ;
刘子莲 ;
朱刚 .
中国专利 :CN114414655A ,2022-04-29