一种电子元器件的密封性测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121290421.4

申请日：

2021-06-08

公开(公告)号：

CN214702618U

公开(公告)日：

2021-11-12

发明(设计)人：

刘伟东王文振

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明区公明街道下村社区第三工业区29号301三楼左侧

IPC主分类号：

G01M300

IPC分类号：

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司 44384

代理人：

冯建华;徐方星

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-12	授权	授权

共 50 条

[1]

电子元器件的密封性测试设备 [P].

柳光福 ;

刘启明 ;

陈志安 .

中国专利 :CN201344853Y ,2009-11-11

[2]

一种电子元器件的密封性测试设备 [P].

柳光福 ;

刘启明 ;

陈志安 .

中国专利 :CN101514938A ,2009-08-26

[3]

一种电子元器件的密封性检测装置 [P].

刘春燕 ;

魏鹏 ;

刘凯 ;

李磊 .

中国专利 :CN216433392U ,2022-05-03

[4]

电子元器件测试设备 [P].

姜爱兰 ;

刘勇 .

中国专利 :CN203054119U ,2013-07-10

[5]

一种用于电子元器件密封性测试的多工位检测系统 [P].

陈志福 ;

吴明招 .

中国专利 :CN118758520A ,2024-10-11

[6]

一种用于电子元器件密封性测试的多工位检测系统 [P].

陈志福 ;

吴明招 .

中国专利 :CN118758520B ,2024-11-01

[7]

一种电子元器件测试设备 [P].

刘乃松 ;

黄文治 ;

李孝文 ;

罗根生 .

中国专利 :CN221572703U ,2024-08-20

[8]

一种电子元器件测试设备 [P].

乔德利 ;

钱子康 .

中国专利 :CN213023393U ,2021-04-20

[9]

一种电子元器件测试设备 [P].

汪新国 ;

毛岩 ;

刘喆 ;

孙倩 ;

田景全 ;

王强 ;

王雨 ;

王雷 .

中国专利 :CN203012062U ,2013-06-19

[10]

一种电子元器件测试设备 [P].

韩越 ;

周洲 .

中国专利 :CN207675793U ,2018-07-31

← 1 2 3 4 5 →