一种电子元器件测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420164966.8

申请日：

2024-01-24

公开(公告)号：

CN221572703U

公开(公告)日：

2024-08-20

发明(设计)人：

刘乃松黄文治李孝文罗根生

申请人：

深圳市海创超能科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道曙光社区智谷研发楼F栋1803

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子元器件测试设备 [P].

李成寿 .

中国专利 :CN213581233U ,2021-06-29

[2]

电子元器件测试设备 [P].

姜爱兰 ;

刘勇 .

中国专利 :CN203054119U ,2013-07-10

[3]

一种电子元器件测试设备 [P].

乔德利 ;

钱子康 .

中国专利 :CN213023393U ,2021-04-20

[4]

一种电子元器件测试设备 [P].

汪新国 ;

毛岩 ;

刘喆 ;

孙倩 ;

田景全 ;

王强 ;

王雨 ;

王雷 .

中国专利 :CN203012062U ,2013-06-19

[5]

一种电子元器件测试设备 [P].

韩越 ;

周洲 .

中国专利 :CN207675793U ,2018-07-31

[6]

电子元器件测试设备 [P].

张勇 .

中国专利 :CN114384279A ,2022-04-22

[7]

电子元器件测试设备 [P].

刘丹 .

中国专利 :CN108828372A ,2018-11-16

[8]

电子元器件测试设备 [P].

浅野功 ;

丹国广 .

中国专利 :CN101031808A ,2007-09-05

[9]

一种电子元器件测试设备 [P].

张宇 ;

黄义定 ;

海涛 ;

万书佳 ;

马建晓 .

中国专利 :CN114563644A ,2022-05-31

[10]

一种电子元器件连续快速测试设备 [P].

张建宏 ;

朱亚东 ;

杜晋 ;

周中升 ;

张浩 .

中国专利 :CN117517829A ,2024-02-06

← 1 2 3 4 5 →