电子元器件测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220750836.X

申请日：

2012-12-31

公开(公告)号：

CN203054119U

公开(公告)日：

2013-07-10

发明(设计)人：

姜爱兰刘勇

申请人：

申请人地址：

314308 浙江省嘉兴市海盐县于城镇构塍村

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R3126 G01R31327

代理机构：

浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100

代理人：

赵芳;徐关寿

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20121231 授权公告日:20130710 终止日期:20191231
2019-04-23	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/00 变更事项:专利权人变更前:浙江佳乐科仪股份有限公司变更后:浙江佳乐科仪股份有限公司变更事项:地址变更前:314308 浙江省嘉兴市海盐县于城镇构塍村变更后:314308 浙江省嘉兴市海盐县武原街道盐北西路1070弄88号
2013-07-10	授权	授权
2015-12-09	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101724858233 IPC(主分类):G01R 31/00 专利号:ZL201220750836X 变更事项:专利权人变更前:嘉兴市佳乐科仪有限公司变更后:浙江佳乐科仪股份有限公司变更事项:地址变更前:314308 浙江省嘉兴市海盐县于城镇构塍村变更后:314308 浙江省嘉兴市海盐县于城镇构塍村

共 50 条

[1]

电子元器件测试设备 [P].

张勇 .

中国专利 :CN114384279A ,2022-04-22

[2]

电子元器件测试设备 [P].

刘丹 .

中国专利 :CN108828372A ,2018-11-16

[3]

电子元器件测试设备 [P].

浅野功 ;

丹国广 .

中国专利 :CN101031808A ,2007-09-05

[4]

电子元器件老炼测试设备 [P].

郑天浩 ;

徐菁 ;

雷震 .

中国专利 :CN117054782B ,2024-08-27

[5]

用于电子元器件的测试设备 [P].

杜春 ;

王强 ;

罗伟 ;

窦国珍 .

中国专利 :CN222280746U ,2024-12-31

[6]

电子元器件测试系统 [P].

崔海坡 ;

李哲龙 ;

周勋 ;

廖跃华 ;

沈力行 ;

尚昆 .

中国专利 :CN203365588U ,2013-12-25

[7]

智能化电子元器件测试设备 [P].

李海 ;

边子衿 .

中国专利 :CN116338438B ,2024-01-19

[8]

一种电子元器件测试设备 [P].

刘乃松 ;

黄文治 ;

李孝文 ;

罗根生 .

中国专利 :CN221572703U ,2024-08-20

[9]

一种电子元器件测试设备 [P].

汪新国 ;

毛岩 ;

刘喆 ;

孙倩 ;

田景全 ;

王强 ;

王雨 ;

王雷 .

中国专利 :CN203012062U ,2013-06-19

[10]

一种电子元器件测试设备 [P].

乔德利 ;

钱子康 .

中国专利 :CN213023393U ,2021-04-20

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