电子元器件测试设备

被引：0

申请号：

CN202111406304.4

申请日：

2021-11-24

公开(公告)号：

CN114384279A

公开(公告)日：

2022-04-22

发明(设计)人：

张勇

申请人：

申请人地址：

337099 江西省萍乡市安源区丹江街联星村总部经济产业园内

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

深圳市创富知识产权代理有限公司 44367

代理人：

余文

法律状态：

发明专利申请公布后的撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-03	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R 1/04 申请公布日:20220422
2022-04-22	公开	公开

共 50 条

[1]

电子元器件测试设备 [P].

姜爱兰 ;

刘勇 .

中国专利 :CN203054119U ,2013-07-10

[2]

电子元器件测试设备 [P].

刘丹 .

中国专利 :CN108828372A ,2018-11-16

[3]

电子元器件测试设备 [P].

浅野功 ;

丹国广 .

中国专利 :CN101031808A ,2007-09-05

[4]

电子元器件老炼测试设备 [P].

郑天浩 ;

徐菁 ;

雷震 .

中国专利 :CN117054782B ,2024-08-27

[5]

一种电子元器件测试设备 [P].

张宇 ;

黄义定 ;

海涛 ;

万书佳 ;

马建晓 .

中国专利 :CN114563644A ,2022-05-31

[6]

用于电子元器件的测试设备 [P].

杜春 ;

王强 ;

罗伟 ;

窦国珍 .

中国专利 :CN222280746U ,2024-12-31

[7]

一种电子元器件耐压测试设备 [P].

李红军 ;

刘英豪 ;

薛胜 ;

郭欧峰 ;

李秋玲 .

中国专利 :CN118425702A ,2024-08-02

[8]

电子元器件测试夹具 [P].

李志文 .

中国专利 :CN2280918Y ,1998-05-06

[9]

一种可调节式电子元器件检测测试设备 [P].

罗超 ;

沈久安 ;

苏毅 .

中国专利 :CN212905031U ,2021-04-06

[10]

电子元器件的测试方法及测试设备 [P].

彭志珊 ;

阎跃军 .

中国专利 :CN117783608A ,2024-03-29

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