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一种可调节式电子元器件检测测试设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202021761216.7
申请日：
2020-08-20
公开(公告)号：
CN212905031U
公开(公告)日：
2021-04-06
发明(设计)人：
罗超
沈久安
苏毅
申请人：
申请人地址：
518104 广东省深圳市光明新区公明街道马山头社区第四工业区64栋F
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3100
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-04-06 | 授权 | 授权 |