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一种可调节电子元器件测试设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201921407004.6
申请日：
2019-08-28
公开(公告)号：
CN211014361U
公开(公告)日：
2020-07-14
发明(设计)人：
张勇
夏欢
禤绪池
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区南江工业园厂房2号3层B分隔体
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3101
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-07-14 | 授权 | 授权 |