一种高压器件动态特性测试电路、测试平台及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111173203.7

申请日：

2021-10-08

公开(公告)号：

CN113917303A

公开(公告)日：

2022-01-11

发明(设计)人：

张军明李欣宜

申请人：

申请人地址：

310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

青岛易维申知识产权代理事务所(普通合伙) 37310

代理人：

于正友

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20211008
2022-01-11	公开	公开

共 50 条

[1]

一种高压功率器件的动态特性测试电路及测试方法 [P].

李云志 ;

潘艳 ;

温家良 ;

姚大伟 .

中国专利 :CN106872870A ,2017-06-20

[2]

一种功率器件特性测试电路 [P].

何嘉辉 ;

陈啟钊 ;

陈希辰 ;

钟有权 .

中国专利 :CN222514630U ,2025-02-21

[3]

一种功率器件动态特性的测试电路及测试方法 [P].

蒋其梦 ;

黄怡菲 ;

黄森 ;

王鑫华 ;

刘新宇 .

中国专利 :CN118519000A ,2024-08-20

[4]

一种电感饱和特性测试电路及测试方法 [P].

何蒋 .

中国专利 :CN104614614A ,2015-05-13

[5]

用于MOSFET动态参数测试的RSW测试电路及测试装置 [P].

安浩 .

中国专利 :CN214122393U ,2021-09-03

[6]

一种具有热电解耦功能的功率器件动态特性测试电路及其测试方法 [P].

罗皓泽 ;

李武华 ;

郭清 ;

盛况 .

中国专利 :CN103605072B ,2014-02-26

[7]

一种测试电路、测试方法及测试设备 [P].

熊仁志 ;

刘健 ;

连战 .

中国专利 :CN114994562A ,2022-09-02

[8]

高压器件HCI测试电路 [P].

曹刚 ;

葛艳辉 .

中国专利 :CN104422873A ,2015-03-18

[9]

一种IGBT开关特性测试电路及测试方法 [P].

唐新灵 ;

吴军民 ;

赛朝阳 ;

张朋 ;

王亮 ;

林仲康 ;

杜玉杰 ;

张西子 .

中国专利 :CN111579958B ,2020-08-25

[10]

动态特性测试电路及IPM测试装置 [P].

江雪晨 ;

冯宇翔 .

中国专利 :CN108776313A ,2018-11-09

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