高压器件HCI测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310363118.6

申请日：

2013-08-20

公开(公告)号：

CN104422873A

公开(公告)日：

2015-03-18

发明(设计)人：

曹刚葛艳辉

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司 31211

代理人：

丁纪铁

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-18	公开	公开
2018-04-03	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20150318
2015-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101605752103 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2013103631186 申请日:20130820

共 50 条

[1]

器件测试电路和器件测试方法 [P].

朱吉新 ;

江舸 ;

何志志 ;

何杏 .

中国专利 :CN120385903A ,2025-07-29

[2]

一种高压器件动态特性测试电路、测试平台及测试方法 [P].

张军明 ;

李欣宜 .

中国专利 :CN113917303A ,2022-01-11

[3]

光器件测试电路 [P].

金海亮 ;

王四俊 ;

熊福胜 ;

张向辉 ;

伍林 ;

具佶勋 .

中国专利 :CN113447750A ,2021-09-28

[4]

被测器件的测试电路和测试机 [P].

刘杰 ;

杨强 .

中国专利 :CN218068203U ,2022-12-16

[5]

高压测试电路及装置 [P].

诸葛骏 .

中国专利 :CN119644075A ,2025-03-18

[6]

一种功率器件特性测试电路 [P].

何嘉辉 ;

陈啟钊 ;

陈希辰 ;

钟有权 .

中国专利 :CN222514630U ,2025-02-21

[7]

一种高压功率器件的动态特性测试电路及测试方法 [P].

李云志 ;

潘艳 ;

温家良 ;

姚大伟 .

中国专利 :CN106872870A ,2017-06-20

[8]

用于高压测试的电路装置和高压测试设备 [P].

M.博克 .

中国专利 :CN107209221A ,2017-09-26

[9]

测试电路、包括测试电路的半导体器件和测试系统 [P].

金东旭 .

中国专利 :CN112435708A ,2021-03-02

[10]

功率器件的测试方法和测试电路 [P].

张海涛 ;

陈宏亮 ;

刘惠鹏 ;

闫肃 ;

樊晨 .

中国专利 :CN119575115A ,2025-03-07

← 1 2 3 4 5 →