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测试电路、包括测试电路的半导体器件和测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010504166.2
申请日：
2020-06-05
公开(公告)号：
CN112435708A
公开(公告)日：
2021-03-02
发明(设计)人：
金东旭
申请人：
申请人地址：
韩国京畿道
IPC主分类号：
G11C2956
IPC分类号：
代理机构：
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363
代理人：
许伟群;阮爱青
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-03-02 | 公开 | 公开 |
| 2021-03-19 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20200605 |