字线测试电路和包括该字线测试电路的半导体设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310246267.8
申请日
2023-03-14
公开(公告)号
CN117871972A
公开(公告)日
2024-04-12
发明(设计)人
崔晳焕
申请人
爱思开海力士有限公司
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
G01R31/00
IPC分类号
G01R1/28 G11C29/12 G11C8/10 G11C5/14 G11C11/34
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
原宏宇;刘久亮
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
字线控制电路和包括字线控制电路的半导体装置 [P]. 
郑喆文 ;
洪德和 .
中国专利 :CN114822626A ,2022-07-29
[2]
测试电路和包括测试电路的半导体装置 [P]. 
李东郁 ;
金荣柱 .
中国专利 :CN107091979B ,2017-08-25
[3]
测试电路和包括测试电路的半导体装置 [P]. 
李东郁 ;
金荣柱 .
中国专利 :CN103367327B ,2013-10-23
[4]
测试电路和包括该测试电路的半导体存储装置 [P]. 
李康悦 ;
朴文必 .
中国专利 :CN102237144A ,2011-11-09
[5]
半导体设备的测试电路和包括其的测试系统 [P]. 
丁钟石 ;
权赞根 ;
金钟锡 ;
李映官 .
韩国专利 :CN118112384A ,2024-05-31
[6]
测试电路、包括测试电路的半导体器件和测试系统 [P]. 
金东旭 .
中国专利 :CN112435708A ,2021-03-02
[7]
测试电路和包括该测试电路的半导体存储器系统 [P]. 
丁钟石 ;
崔诚元 .
中国专利 :CN114166889A ,2022-03-11
[8]
测试电路和包括该测试电路的半导体存储器系统 [P]. 
丁钟石 ;
崔诚元 .
韩国专利 :CN114166889B ,2024-11-12
[9]
包括测试电路的半导体装置 [P]. 
金成镇 ;
尹大镐 .
中国专利 :CN109100632A ,2018-12-28
[10]
DLL电路和具有该电路的半导体设备 [P]. 
高井康浩 .
中国专利 :CN101106374A ,2008-01-16