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字线测试电路和包括该字线测试电路的半导体设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202310246267.8
申请日
:
2023-03-14
公开(公告)号
:
CN117871972A
公开(公告)日
:
2024-04-12
发明(设计)人
:
崔晳焕
申请人
:
爱思开海力士有限公司
申请人地址
:
韩国京畿道
IPC主分类号
:
G01R31/00
IPC分类号
:
G01R1/28
G11C29/12
G11C8/10
G11C5/14
G11C11/34
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
原宏宇;刘久亮
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-12
公开
公开
2024-04-30
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20230314
共 50 条
[1]
字线控制电路和包括字线控制电路的半导体装置
[P].
郑喆文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑喆文
;
洪德和
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
洪德和
.
中国专利
:CN114822626A
,2022-07-29
[2]
测试电路和包括测试电路的半导体装置
[P].
李东郁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李东郁
;
金荣柱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金荣柱
.
中国专利
:CN107091979B
,2017-08-25
[3]
测试电路和包括测试电路的半导体装置
[P].
李东郁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李东郁
;
金荣柱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金荣柱
.
中国专利
:CN103367327B
,2013-10-23
[4]
测试电路和包括该测试电路的半导体存储装置
[P].
李康悦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李康悦
;
朴文必
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朴文必
.
中国专利
:CN102237144A
,2011-11-09
[5]
半导体设备的测试电路和包括其的测试系统
[P].
丁钟石
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
丁钟石
;
权赞根
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
权赞根
;
金钟锡
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
金钟锡
;
李映官
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
李映官
.
韩国专利
:CN118112384A
,2024-05-31
[6]
测试电路、包括测试电路的半导体器件和测试系统
[P].
金东旭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金东旭
.
中国专利
:CN112435708A
,2021-03-02
[7]
测试电路和包括该测试电路的半导体存储器系统
[P].
丁钟石
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丁钟石
;
崔诚元
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
崔诚元
.
中国专利
:CN114166889A
,2022-03-11
[8]
测试电路和包括该测试电路的半导体存储器系统
[P].
丁钟石
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
丁钟石
;
崔诚元
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
崔诚元
.
韩国专利
:CN114166889B
,2024-11-12
[9]
包括测试电路的半导体装置
[P].
金成镇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金成镇
;
尹大镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尹大镐
.
中国专利
:CN109100632A
,2018-12-28
[10]
DLL电路和具有该电路的半导体设备
[P].
高井康浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高井康浩
.
中国专利
:CN101106374A
,2008-01-16
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