测试装置以及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200580000284.3

申请日：

2005-06-14

公开(公告)号：

CN100559204C

公开(公告)日：

2006-08-16

发明(设计)人：

大空聡中川哲郎角田慎高岩伸贤

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01R31319

IPC分类号：

G01R3130

代理机构：

北京中原华和知识产权代理有限责任公司

代理人：

寿宁

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-05-02	实质审查的生效	实质审查的生效
2006-08-16	公开	公开
2009-11-11	授权	授权

共 50 条

[1]

测试装置以及测试方法 [P].

饭岛匡史 ;

木村英明 .

日本专利 :CN120265998A ,2025-07-04

[2]

测试装置以及测试方法 [P].

张藏文 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN107863302A ,2018-03-30

[3]

测试装置、以及测试方法 [P].

大岛直哉 .

日本专利 :CN119654554A ,2025-03-18

[4]

测试装置以及测试方法 [P].

丘向忠 ;

梁金 .

中国专利 :CN101520372A ,2009-09-02

[5]

测试装置以及测试方法 [P].

何羽轩 .

中国专利 :CN120446702A ,2025-08-08

[6]

测试装置以及测试方法 [P].

市吉清司 .

中国专利 :CN101231325B ,2008-07-30

[7]

测试装置以及测试方法 [P].

滝泽圭佑 ;

桥本礼一 .

中国专利 :CN104955074B ,2015-09-30

[8]

测试装置以及测试方法 [P].

市吉清司 .

中国专利 :CN100432689C ,2006-04-05

[9]

测试装置以及测试方法 [P].

小泽大树 ;

佐藤新哉 .

中国专利 :CN101310342A ,2008-11-19

[10]

测试方法以及测试装置 [P].

谭丽娟 ;

晏启剑 .

中国专利 :CN107423168A ,2017-12-01

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