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测试装置以及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380080964.9
申请日
:
2023-11-28
公开(公告)号
:
CN120265998A
公开(公告)日
:
2025-07-04
发明(设计)人
:
饭岛匡史
木村英明
申请人
:
日置电机株式会社
株式会社爱信
申请人地址
:
日本长野县
IPC主分类号
:
G01R31/34
IPC分类号
:
G01R31/72
代理机构
:
北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙) 11418
代理人
:
郭红丽;金东春
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-07-22
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/34申请日:20231128
2025-07-04
公开
公开
共 50 条
[1]
测试装置、测试设备以及测试方法
[P].
吴贵阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
吴贵阳
;
周颖达
论文数:
0
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0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
周颖达
;
李鑫洋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
李鑫洋
;
厉辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
厉辉
.
中国专利
:CN119993853A
,2025-05-13
[2]
测试装置、测试设备以及测试方法
[P].
吴贵阳
论文数:
0
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0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
吴贵阳
;
周颖达
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
周颖达
;
李鑫洋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
李鑫洋
;
厉辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
厉辉
.
中国专利
:CN119993853B
,2025-10-17
[3]
测试装置以及测试方法
[P].
大空聡
论文数:
0
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大空聡
;
中川哲郎
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中川哲郎
;
角田慎
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角田慎
;
高岩伸贤
论文数:
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0
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高岩伸贤
.
中国专利
:CN100559204C
,2006-08-16
[4]
测试装置以及测试方法
[P].
张藏文
论文数:
0
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张藏文
;
朱鹏
论文数:
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0
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朱鹏
.
中国专利
:CN107863302A
,2018-03-30
[5]
测试装置、以及测试方法
[P].
大岛直哉
论文数:
0
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0
机构:
日挥株式会社
日挥株式会社
大岛直哉
.
日本专利
:CN119654554A
,2025-03-18
[6]
测试装置以及测试方法
[P].
丘向忠
论文数:
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丘向忠
;
梁金
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梁金
.
中国专利
:CN101520372A
,2009-09-02
[7]
测试装置以及测试方法
[P].
何羽轩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
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机构:
新唐科技股份有限公司
新唐科技股份有限公司
何羽轩
.
中国专利
:CN120446702A
,2025-08-08
[8]
测试装置以及测试方法
[P].
市吉清司
论文数:
0
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0
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0
市吉清司
.
中国专利
:CN101231325B
,2008-07-30
[9]
测试装置以及测试方法
[P].
滝泽圭佑
论文数:
0
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0
滝泽圭佑
;
桥本礼一
论文数:
0
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0
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桥本礼一
.
中国专利
:CN104955074B
,2015-09-30
[10]
测试装置以及测试方法
[P].
市吉清司
论文数:
0
引用数:
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h-index:
0
市吉清司
.
中国专利
:CN100432689C
,2006-04-05
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