面板缺陷的检测系统及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910270863.3

申请日：

2019-04-04

公开(公告)号：

CN110083636A

公开(公告)日：

2019-08-02

发明(设计)人：

傅益龙王子超佘迎松

申请人：

申请人地址：

518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

IPC主分类号：

G06F162458

IPC分类号：

G09G300

代理机构：

深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300

代理人：

黄威

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 16/2458 申请日:20190404
2022-03-18	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F 16/2458 申请公布日:20190802
2019-08-02	公开	公开
2021-03-02	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 16/2458 变更事项:申请人变更前:深圳市华星光电技术有限公司变更后:TCL华星光电技术有限公司变更事项:地址变更前:518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号变更后:518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

共 50 条

[1]

显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

王珂 .

中国专利 :CN110702685A ,2020-01-17

[2]

显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

杨玉 ;

张健 .

中国专利 :CN119534478A ,2025-02-28

[3]

显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法 [P].

金应圭 ;

朴信均 .

中国专利 :CN106328027A ,2017-01-11

[4]

触控面板缺陷检测系统及触控面板缺陷检测方法 [P].

林金升 .

中国专利 :CN112465775B ,2021-03-09

[5]

缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

孟阳 ;

王伟斌 .

中国专利 :CN112444526A ,2021-03-05

[6]

缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

中野拓巳 .

中国专利 :CN103635169A ,2014-03-12

[7]

缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

杨东 ;

李阳 ;

李久航 ;

熊荣 ;

张海滨 ;

李红川 ;

王融慧 ;

潘彦霖 ;

杨歌 ;

何云 ;

马永生 .

中国专利 :CN119666984A ,2025-03-21

[8]

缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

王通 ;

许继仁 ;

林庆儒 .

中国专利 :CN111189845A ,2020-05-22

[9]

缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

赵天天 .

中国专利 :CN119626926A ,2025-03-14

[10]

缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

王星泽 ;

舒远 .

中国专利 :CN111344559A ,2020-06-26

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