一种微颗粒的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410630911.2

申请日：

2014-11-11

公开(公告)号：

CN105575839A

公开(公告)日：

2016-05-11

发明(设计)人：

王国荃俞子华

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区宜山路800号

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

代理机构：

上海光华专利事务所 31219

代理人：

李仪萍

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-08	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101663912033 IPC(主分类):H01L 21/66 专利申请号:2014106309112 申请日:20141111
2019-07-26	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L 21/66 申请公布日:20160511
2016-05-11	公开	公开

共 50 条

[1]

一种微颗粒强度测量仪及测量方法 [P].

张志兵 ;

张平 ;

李华峰 .

中国专利 :CN110967248A ,2020-04-07

[2]

一种微颗粒的测量装置 [P].

王国荃 .

中国专利 :CN215339404U ,2021-12-28

[3]

一种液体样品中的微颗粒快速计数测量方法 [P].

方蓉 ;

张向平 ;

方晓华 ;

赵永建 .

中国专利 :CN109580440B ,2024-01-30

[4]

一种液体样品中的微颗粒快速计数测量方法 [P].

张向平 ;

方晓华 ;

赵永建 .

中国专利 :CN109580440A ,2019-04-05

[5]

一种泥沙颗粒暴露度的测量方法 [P].

杨文俊 ;

孟震 ;

杨一 ;

宫平 .

中国专利 :CN106483150B ,2017-03-08

[6]

一种颗粒尺寸的测量方法 [P].

张凯红 ;

赵宏生 ;

刘小雪 ;

李自强 ;

唐春和 .

中国专利 :CN102252944A ,2011-11-23

[7]

一种基于微纳荧光颗粒的薄膜热导率测量方法 [P].

陈小源 ;

张武康 ;

方小红 ;

李东栋 ;

陈海燕 .

中国专利 :CN107102026A ,2017-08-29

[8]

一种颗粒浓度测量方法 [P].

宋兆龙 ;

雷志伟 ;

许传龙 .

中国专利 :CN104792674A ,2015-07-22

[9]

颗粒测量装置和颗粒测量方法 [P].

坂东和奈 ;

近藤郁 ;

田渊拓哉 ;

近藤聪太 .

中国专利 :CN114424044A ,2022-04-29

[10]

颗粒测量装置和颗粒测量方法 [P].

坂东和奈 ;

近藤郁 ;

田渊拓哉 ;

近藤聪太 .

日本专利 :CN114424044B ,2025-12-30

← 1 2 3 4 5 →