精密纳米压痕测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120263812.7

申请日：

2011-07-25

公开(公告)号：

CN202195992U

公开(公告)日：

2012-04-18

发明(设计)人：

赵宏伟耿春阳黄虎徐利霞张镇鹏张鹏

申请人：

申请人地址：

130025 吉林省长春市人民大街5988号

IPC主分类号：

G01N340

IPC分类号：

G01N342

代理机构：

吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100

代理人：

王怡敏

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-08-08	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01N 3/40 专利申请号:2011202638127 变更事项:发明人变更前:赵宏伟;耿春阳;黄虎;徐利霞;张镇鹏;张鹏变更后:赵宏伟;米杰;黄虎;刘长胜;耿春阳;王汉伟;王赫;张文爽;杨建波号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101435533405
2016-09-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101678557540 IPC(主分类):G01N 3/40 专利号:ZL2011202638127 申请日:20110725 授权公告日:20120418 终止日期:20150725
2012-04-18	授权	授权

共 50 条

[1]

精密纳米压痕测试装置 [P].

赵宏伟 ;

米杰 ;

黄虎 ;

刘长胜 ;

耿春阳 ;

王汉伟 ;

王赫 ;

张文爽 ;

杨建波 .

中国专利 :CN102288501B ,2011-12-21

[2]

纳米压痕/刻划测试装置 [P].

孙义质 .

中国专利 :CN108507891A ,2018-09-07

[3]

纳米压痕/刻划测试装置 [P].

赵宏伟 ;

黄虎 ;

米杰 ;

杨洁 ;

万顺光 ;

马志超 ;

王小月 ;

袁英堃 .

中国专利 :CN102252925A ,2011-11-23

[4]

纳米压痕/刻划测试装置 [P].

赵宏伟 ;

黄虎 ;

米杰 ;

杨洁 ;

万顺光 ;

马志超 ;

王小月 ;

袁英堃 .

中国专利 :CN202057562U ,2011-11-30

[5]

小型化原位纳米压痕测试装置 [P].

赵宏伟 ;

黄虎 ;

袁英堃 ;

米杰 ;

杨洁 ;

万顺光 ;

马志超 ;

王小月 ;

耿春阳 .

中国专利 :CN102252923B ,2011-11-23

[6]

小型化原位纳米压痕测试装置 [P].

赵宏伟 ;

黄虎 ;

袁英堃 ;

米杰 ;

杨洁 ;

万顺光 ;

马志超 ;

王小月 ;

耿春阳 .

中国专利 :CN202057617U ,2011-11-30

[7]

微型精密原位纳米压痕及刻划测试装置 [P].

董景石 ;

周永臣 ;

马志超 ;

刘长宜 ;

赵宏伟 ;

刘先华 ;

孙霁雯 ;

刘陶然 ;

关键 .

中国专利 :CN204944965U ,2016-01-06

[8]

微型精密原位纳米压痕及刻划测试装置 [P].

董景石 ;

周永臣 ;

马志超 ;

刘长宜 ;

赵宏伟 ;

刘先华 ;

孙霁雯 ;

刘陶然 ;

关键 .

中国专利 :CN105021478A ,2015-11-04

[9]

微纳米压痕测试装置 [P].

马增胜 ;

孙坤 ;

钟志春 .

中国专利 :CN211784807U ,2020-10-27

[10]

微纳米压痕测试装置及方法 [P].

马增胜 ;

陈鑫 ;

孙坤 ;

钟志春 .

中国专利 :CN111366460A ,2020-07-03

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