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小型化原位纳米压痕测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201110097964.9
申请日
:
2011-04-19
公开(公告)号
:
CN102252923B
公开(公告)日
:
2011-11-23
发明(设计)人
:
赵宏伟
黄虎
袁英堃
米杰
杨洁
万顺光
马志超
王小月
耿春阳
申请人
:
申请人地址
:
130025 吉林省长春市人民大街5988号
IPC主分类号
:
G01N340
IPC分类号
:
G01N302
代理机构
:
吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100
代理人
:
王怡敏
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2011-11-23
公开
公开
2013-01-23
授权
授权
2012-01-04
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101165565356 IPC(主分类):G01N 3/40 专利申请号:2011100979649 申请日:20110419
共 50 条
[1]
小型化原位纳米压痕测试装置
[P].
赵宏伟
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赵宏伟
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黄虎
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黄虎
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袁英堃
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袁英堃
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米杰
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米杰
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杨洁
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杨洁
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万顺光
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万顺光
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马志超
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马志超
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王小月
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王小月
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耿春阳
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耿春阳
.
中国专利
:CN202057617U
,2011-11-30
[2]
纳米压痕/刻划测试装置
[P].
孙义质
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孙义质
.
中国专利
:CN108507891A
,2018-09-07
[3]
纳米压痕/刻划测试装置
[P].
赵宏伟
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赵宏伟
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黄虎
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黄虎
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杨洁
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万顺光
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万顺光
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马志超
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马志超
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王小月
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王小月
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袁英堃
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袁英堃
.
中国专利
:CN102252925A
,2011-11-23
[4]
纳米压痕/刻划测试装置
[P].
赵宏伟
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赵宏伟
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黄虎
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黄虎
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米杰
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杨洁
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万顺光
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万顺光
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马志超
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马志超
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王小月
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王小月
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袁英堃
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袁英堃
.
中国专利
:CN202057562U
,2011-11-30
[5]
微型精密原位纳米压痕及刻划测试装置
[P].
董景石
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董景石
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周永臣
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周永臣
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马志超
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马志超
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刘长宜
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赵宏伟
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孙霁雯
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关键
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关键
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中国专利
:CN204944965U
,2016-01-06
[6]
微型精密原位纳米压痕及刻划测试装置
[P].
董景石
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董景石
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周永臣
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马志超
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刘陶然
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关键
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中国专利
:CN105021478A
,2015-11-04
[7]
精密纳米压痕测试装置
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耿春阳
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张文爽
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杨建波
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杨建波
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中国专利
:CN102288501B
,2011-12-21
[8]
精密纳米压痕测试装置
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耿春阳
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张鹏
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张鹏
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中国专利
:CN202195992U
,2012-04-18
[9]
小型化力学和电学耦合特性测试装置
[P].
赵宏伟
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赵宏伟
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耿春阳
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张鹏
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张鹏
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中国专利
:CN102353576A
,2012-02-15
[10]
小型化力学和电学耦合特性测试装置
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赵宏伟
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赵宏伟
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耿春阳
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耿春阳
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中国专利
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