光学检测器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201480056299.0

申请日：

2014-08-15

公开(公告)号：

CN105637320A

公开(公告)日：

2016-06-01

发明(设计)人：

R·森德 I·布鲁德 S·伊尔勒 E·蒂尔 H·沃内博格

申请人：

申请人地址：

德国路德维希港

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

北京市中咨律师事务所 11247

代理人：

肖威;刘金辉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-01	公开	公开
2016-09-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101678329863 IPC(主分类):G01B 11/25 专利申请号:2014800562990 申请日:20140815
2018-12-14	授权	授权

共 50 条

[21]

光学检测器 [P].

清野光宏 ;

柳井谦一 ;

木村祯祐 ;

尾崎宪幸 ;

柏田真司 ;

水野文明 ;

恩田一寿 .

日本专利 :CN113281781B ,2025-01-17

[22]

光学的检测器装置 [P].

托马斯·洛马茨 .

中国专利 :CN110998255A ,2020-04-10

[23]

用于光学检测的光学传感器和检测器 [P].

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

S·穆勒 ;

R·赫 ;

H·贝克特尔 ;

T·阿尔腾贝克 ;

F·迪特曼 ;

B·福伊尔施泰因 ;

T·胡普福尔 ;

A·汉德瑞克 ;

R·古斯特 ;

P·P·卡莱塔 ;

D·克尔布莱因 ;

R·森德 .

中国专利 :CN113491016A ,2021-10-08

[24]

光学传感器和用于光学检测的检测器 [P].

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

S·穆勒 ;

R·赫 ;

H·贝克特尔 ;

T·阿尔腾贝克 ;

F·迪特曼 ;

B·福伊尔施泰因 ;

T·胡普福尔 ;

A·汉德瑞克 ;

R·古斯特 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 .

中国专利 :CN113302750A ,2021-08-24

[25]

用于光学检测的光学传感器和检测器 [P].

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

S·穆勒 ;

R·赫 ;

H·贝克特尔 ;

T·阿尔腾贝克 ;

F·迪特曼 ;

B·福伊尔施泰因 ;

T·胡普福尔 ;

A·汉德瑞克 ;

R·古斯特 ;

P·P·卡莱塔 ;

D·克尔布莱因 ;

R·森德 .

德国专利 :CN113491016B ,2025-10-17

[26]

光学传感器和用于光学检测的检测器 [P].

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

B·福伊尔施泰因 .

中国专利 :CN109564927A ,2019-04-02

[27]

插件光学检测器 [P].

李龙强 .

中国专利 :CN306202578S ,2020-12-01

[28]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

C·伦纳茨 ;

C·D·席尔德克内希特 ;

C·朗根施密德 ;

C·哈恩 ;

I·布鲁德 ;

M·埃伯斯帕奇 ;

C·M·奥古恩 ;

P·辛德勒 ;

P·费耶斯 ;

P·席伦 ;

R·森德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·亨根 ;

T·奥默 ;

W·赫尔梅斯 .

中国专利 :CN110178045A ,2019-08-27

[29]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

C·朗根施密德 .

中国专利 :CN108292175A ,2018-07-17

[30]

用于检测气体和悬浮物的光学检测器 [P].

蔡明原 ;

吕俊逸 ;

范秉轩 ;

邱柏瑞 .

中国专利 :CN115552205A ,2022-12-30

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