半导体装置制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201980070334.7
申请日
2019-10-18
公开(公告)号
CN112912993A
公开(公告)日
2021-06-04
发明(设计)人
辻直子
申请人
申请人地址
日本大阪府
IPC主分类号
H01L21304
IPC分类号
H01L2102 H01L25065 H01L2507 H01L2518
代理机构
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
杨薇
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体装置制造方法 [P]. 
辻直子 .
日本专利 :CN112912993B ,2024-06-11
[2]
半导体装置的制造方法 [P]. 
辻直子 .
中国专利 :CN112204738A ,2021-01-08
[3]
半导体装置的制造方法 [P]. 
辻直子 .
日本专利 :CN112204738B ,2024-12-24
[4]
半导体装置制造方法 [P]. 
辻直子 .
日本专利 :CN112913015B ,2024-01-16
[5]
半导体装置制造方法 [P]. 
辻直子 .
中国专利 :CN112913016A ,2021-06-04
[6]
半导体装置制造方法 [P]. 
辻直子 .
中国专利 :CN112913015A ,2021-06-04
[7]
半导体装置制造方法 [P]. 
辻直子 .
日本专利 :CN112913016B ,2024-02-13
[8]
半导体装置的制造方法及半导体制造装置 [P]. 
志摩真也 ;
高桥健司 .
中国专利 :CN105990207B ,2016-10-05
[9]
半导体装置和半导体装置的制造方法 [P]. 
小谷贵浩 ;
前田将克 .
中国专利 :CN103415923B ,2013-11-27
[10]
半导体装置及半导体装置的制造方法 [P]. 
作元祥太朗 .
中国专利 :CN113539977A ,2021-10-22