电子元件外观检测装置及其检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510437460.5

申请日：

2015-07-23

公开(公告)号：

CN106370666A

公开(公告)日：

2017-02-01

发明(设计)人：

张仁明陈正锴刘子诚林轩民杨景钦

申请人：

申请人地址：

中国台湾桃园市中坜区中坜工业区

IPC主分类号：

G01N2189

IPC分类号：

B07C534 B07C502

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人：

王玉双;李岩

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-02-01	公开	公开
2017-03-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101705814079 IPC(主分类):G01N 21/89 专利申请号:2015104374605 申请日:20150723
2019-12-27	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 21/89 申请公布日:20170201

共 50 条

[1]

电子元件外观检测装置 [P].

张仁明 ;

陈正锴 ;

刘子诚 ;

林轩民 ;

杨景钦 .

中国专利 :CN204789382U ,2015-11-18

[2]

电子元件检测装置及其检测方法 [P].

冯召波 .

中国专利 :CN104635102A ,2015-05-20

[3]

电子元件外观影像检测方法 [P].

张仁明 ;

陈正锴 ;

刘子诚 ;

林轩民 ;

杨景钦 .

中国专利 :CN106568778A ,2017-04-19

[4]

电子元件安装用薄膜载带的外观检测方法及外观检测装置 [P].

生田一雄 .

中国专利 :CN1908636A ,2007-02-07

[5]

电子元件外观检测设备 [P].

谢周阳 ;

翁水才 ;

祝占伟 ;

郑洪宝 .

中国专利 :CN114833074A ,2022-08-02

[6]

电子元件外观检测设备 [P].

谢周阳 ;

翁水才 ;

祝占伟 ;

郑洪宝 .

中国专利 :CN114833074B ,2024-04-23

[7]

一种电子元件外观检测机构及外观检测装置 [P].

张啸宇 ;

刘骏 .

中国专利 :CN218271946U ,2023-01-10

[8]

电子元件对位偏移检测方法及其检测装置 [P].

周志汉 ;

贺庆 ;

赵忠源 ;

丛周建 .

中国专利 :CN101071149A ,2007-11-14

[9]

电子元件的检测系统及其检测方法 [P].

汪秉龙 ;

陈桂标 ;

陈信呈 ;

周明澔 .

中国专利 :CN101576510A ,2009-11-11

[10]

电子元件测试座的检测装置及其检测方法 [P].

文秉正 ;

薛为仁 ;

李仁葵 ;

林秋诚 .

中国专利 :CN101241160B ,2008-08-13

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