电子元件外观检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520539227.3

申请日：

2015-07-23

公开(公告)号：

CN204789382U

公开(公告)日：

2015-11-18

发明(设计)人：

张仁明陈正锴刘子诚林轩民杨景钦

申请人：

申请人地址：

中国台湾桃园市中坜区中坜工业区

IPC主分类号：

G01N2189

IPC分类号：

B07C534 B07C502

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人：

王玉双;李岩

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-11-18	授权	授权

共 50 条

[1]

电子元件外观检测装置及其检测方法 [P].

张仁明 ;

陈正锴 ;

刘子诚 ;

林轩民 ;

杨景钦 .

中国专利 :CN106370666A ,2017-02-01

[2]

一种电子元件外观检测机构及外观检测装置 [P].

张啸宇 ;

刘骏 .

中国专利 :CN218271946U ,2023-01-10

[3]

电子元件外观检测设备 [P].

谢周阳 ;

翁水才 ;

祝占伟 ;

郑洪宝 .

中国专利 :CN114833074A ,2022-08-02

[4]

电子元件外观检测设备 [P].

谢周阳 ;

翁水才 ;

祝占伟 ;

郑洪宝 .

中国专利 :CN114833074B ,2024-04-23

[5]

一种双通道电子元件外观检测装置 [P].

张啸宇 ;

刘骏 .

中国专利 :CN218239789U ,2023-01-06

[6]

电子元件两面外观缺陷检测装置 [P].

景颢 ;

张志远 .

中国专利 :CN221459056U ,2024-08-02

[7]

电子元件检测装置 [P].

熊斌 ;

赖晨鹏 ;

欧毓迎 ;

姜富林 ;

黄才笋 ;

方祥建 .

中国专利 :CN203526088U ,2014-04-09

[8]

电子元件检测装置 [P].

张正宽 .

中国专利 :CN2522868Y ,2002-11-27

[9]

电子元件检测装置 [P].

祁鹏鹏 .

中国专利 :CN216560871U ,2022-05-17

[10]

电子元件检测装置 [P].

王媛秀 ;

李杨寿 ;

钟红海 ;

钟承文 ;

曾翔清 ;

陈卓标 .

中国专利 :CN203012085U ,2013-06-19

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