一种双通道电子元件外观检测装置

被引：0

申请号：

CN202222002981.6

申请日：

2022-08-01

公开(公告)号：

CN218239789U

公开(公告)日：

2023-01-06

发明(设计)人：

张啸宇刘骏

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明区凤凰街道塘尾社区南太云创谷4栋905-906室

IPC主分类号：

G01N2101

IPC分类号：

G01N2188 B07C5342 B07C536

代理机构：

深圳市龙成联合专利代理有限公司 44344

代理人：

陈蓉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-06	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子元件外观检测机构及外观检测装置 [P].

张啸宇 ;

刘骏 .

中国专利 :CN218271946U ,2023-01-10

[2]

电子元件外观检测装置 [P].

张仁明 ;

陈正锴 ;

刘子诚 ;

林轩民 ;

杨景钦 .

中国专利 :CN204789382U ,2015-11-18

[3]

电子元件外观检测装置及其检测方法 [P].

张仁明 ;

陈正锴 ;

刘子诚 ;

林轩民 ;

杨景钦 .

中国专利 :CN106370666A ,2017-02-01

[4]

一种电子元件包装外观瑕疵检测装置 [P].

沈仲春 ;

王连堂 ;

于仁雪 ;

王明 .

中国专利 :CN223513183U ,2025-11-04

[5]

一种电子元件产品外观在线检测装置 [P].

刘骏 ;

张啸宇 .

中国专利 :CN211678855U ,2020-10-16

[6]

一种电子元件检测装置 [P].

李洁 ;

李亮亮 ;

刘丽 ;

赵虎 .

中国专利 :CN221860520U ,2024-10-18

[7]

一种电子元件检测装置 [P].

陈宏桃 .

中国专利 :CN217931848U ,2022-11-29

[8]

电子元件外观检测设备 [P].

谢周阳 ;

翁水才 ;

祝占伟 ;

郑洪宝 .

中国专利 :CN114833074A ,2022-08-02

[9]

电子元件外观检测设备 [P].

谢周阳 ;

翁水才 ;

祝占伟 ;

郑洪宝 .

中国专利 :CN114833074B ,2024-04-23

[10]

一种电子元件外观缺陷检测装置 [P].

张成法 ;

赵永涛 ;

庄小叶 ;

李楠 .

中国专利 :CN114813756A ,2022-07-29

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