一种简易电迁移测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710618121.6

申请日：

2017-07-26

公开(公告)号：

CN107389987A

公开(公告)日：

2017-11-24

发明(设计)人：

廖广兰孙博邵杰史铁林汤自荣谭先华林建斌王肖

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3100

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

梁鹏;曹葆青

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-11-24	公开	公开
2017-12-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20170726
2020-04-14	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 1/04 申请公布日:20171124

共 50 条

[1]

电迁移测试装置、电迁移测试系统及其测试方法 [P].

甘正浩 ;

冯军宏 .

中国专利 :CN107045993B ,2017-08-15

[2]

一种电迁移测试结构 [P].

王莎莎 ;

陈航 ;

郑泽杰 .

中国专利 :CN220895507U ,2024-05-03

[3]

一种电迁移串行测试系统及方法 [P].

付志伟 ;

郭小童 ;

陈健 ;

陈义强 ;

路国光 .

中国专利 :CN119881507A ,2025-04-25

[4]

一种金属电迁移测试系统及半导体结构 [P].

彭界帮 ;

孔令枫 .

中国专利 :CN121054610A ,2025-12-02

[5]

一种微焊点原位电迁移测试系统和方法 [P].

汉晶 ;

曹恒 ;

郭福 ;

马立民 ;

孟洲 ;

晋学轮 ;

李腾 ;

贾强 ;

周炜 ;

王乙舒 .

中国专利 :CN114325505A ,2022-04-12

[6]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

朱月芹 ;

周柯 ;

陈雷刚 .

中国专利 :CN109742066A ,2019-05-10

[7]

一种焊点电迁移寿命的测试结构 [P].

郭洪岩 ;

张黎 ;

陈锦辉 ;

赖志明 .

中国专利 :CN203310936U ,2013-11-27

[8]

一种电迁移可靠性测试结构 [P].

储佳 .

中国专利 :CN103035619B ,2013-04-10

[9]

一种航电功能试验测试系统 [P].

陈曦 ;

刘妍 ;

韩沛岑 .

中国专利 :CN112824229B ,2021-05-21

[10]

一种无线电罗盘测试系统 [P].

杨帅 ;

石高坤 .

中国专利 :CN221883871U ,2024-10-22

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