测试电路和测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810135727.5

申请日：

2008-07-03

公开(公告)号：

CN101339226A

公开(公告)日：

2009-01-07

发明(设计)人：

佐伯穣

申请人：

申请人地址：

日本神奈川

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司

代理人：

陆锦华;黄启行

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-03-10	实质审查的生效	实质审查的生效
2012-10-10	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101455989887 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2008101357275 申请公布日:20090107
2009-01-07	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体集成电路的测试电路和测试方法 [P].

辛尚勋 ;

李泰龙 .

中国专利 :CN102759700A ,2012-10-31

[2]

测试电路、测试系统和测试方法 [P].

李升根 .

中国专利 :CN113189470A ,2021-07-30

[3]

测试电路、测试系统和测试方法 [P].

陈晶晶 ;

曾雪松 ;

李若园 .

中国专利 :CN116027167B ,2025-10-24

[4]

测试电路、测试系统和测试方法 [P].

李升根 .

中国专利 :CN113189470B ,2024-11-29

[5]

测试模式控制电路及方法、测试电路和存储器 [P].

程彪 ;

陆天辰 .

中国专利 :CN118092225A ,2024-05-28

[6]

测试电路、测试系统、测试方法和半导体器件 [P].

侯闯明 .

中国专利 :CN117368676A ,2024-01-09

[7]

测试电路、显示面板及其测试方法 [P].

李飞 .

中国专利 :CN113553225B ,2021-10-26

[8]

晶闸管测试电路和测试方法 [P].

胡爱斌 ;

张一峰 ;

向军利 ;

章剑锋 .

中国专利 :CN106646181A ,2017-05-10

[9]

晶闸管测试电路和测试方法 [P].

胡爱斌 ;

张一峰 ;

向军利 ;

章剑锋 .

中国专利 :CN106646181B ,2024-04-19

[10]

测试电路及测试方法 [P].

王立鹏 .

中国专利 :CN119827934A ,2025-04-15

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