共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
测试电路、测试系统和测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111246405.X
申请日：
2021-10-26
公开(公告)号：
CN116027167B
公开(公告)日：
2025-10-24
发明(设计)人：
陈晶晶
曾雪松
李若园
申请人：
中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
中芯国际集成电路制造（北京）有限公司
申请人地址：
201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区张江路18号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327
代理人：
高静
法律状态：
授权
国省代码：
上海市
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-10-24 | 授权 | 授权 |