测试电路及测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420122559.0

申请日：

2024-01-17

公开(公告)号：

CN221977047U

公开(公告)日：

2024-11-08

发明(设计)人：

吴勇

申请人：

鸿富锦精密工业（武汉）有限公司

申请人地址：

430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷二路特一号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/28

代理机构：

深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334

代理人：

常云敏

法律状态：

授权

国省代码：

河北省石家庄市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-08	授权	授权

共 50 条

[1]

测试电路及测试系统 [P].

吴永隆 ;

孙瑞 ;

何文基 ;

朱铭 .

中国专利 :CN221378435U ,2024-07-19

[2]

测试电路及测试系统 [P].

范以训 .

中国专利 :CN211478537U ,2020-09-11

[3]

测试电路及测试系统 [P].

田晨 .

中国专利 :CN208636408U ,2019-03-22

[4]

测试电路、测试系统及测试方法 [P].

金吉松 .

中国专利 :CN120847576A ,2025-10-28

[5]

测试电路、测试系统及测试方法 [P].

吴永隆 ;

孙瑞 ;

何文基 ;

朱铭 .

中国专利 :CN117631339A ,2024-03-01

[6]

测试电路、测试板及测试系统 [P].

官勐杰 ;

刘敏 ;

齐鲁欣 .

中国专利 :CN114994510A ,2022-09-02

[7]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

郑文昌 .

中国专利 :CN103592594A ,2014-02-19

[8]

测试电路、测试系统和测试方法 [P].

陈晶晶 ;

曾雪松 ;

李若园 .

中国专利 :CN116027167B ,2025-10-24

[9]

芯片测试电路及测试系统 [P].

王旭 ;

刘杰 ;

田强 ;

勾俊全 .

中国专利 :CN220552940U ,2024-03-01

[10]

芯片测试方法、测试电路及测试系统 [P].

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117723936A ,2024-03-19

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