一种金属薄膜体电阻

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810233383.1

申请日：

2008-12-18

公开(公告)号：

CN101436591A

公开(公告)日：

2009-05-20

发明(设计)人：

钟怡何开全刘玉奎

申请人：

申请人地址：

400060重庆市南岸区南坪花园路14号

IPC主分类号：

H01L2701

IPC分类号：

H01L2348

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-05-20	公开	公开
2011-01-26	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101063328498 IPC(主分类):H01L 27/01 专利申请号:2008102333831 公开日:20090520
2009-07-15	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

金属薄膜电阻、应用金属薄膜电阻的集成电路和制造方法 [P].

刘建 ;

税国华 ;

刘青 ;

胡镜影 ;

王飞 ;

阚玲 .

中国专利 :CN110993582B ,2020-04-10

[2]

一种金属薄膜电阻结构及其制造方法 [P].

左青云 ;

康晓旭 ;

曾少海 .

中国专利 :CN102324427B ,2012-01-18

[3]

金属薄膜电阻及其制备方法 [P].

林昭宏 ;

黄仁德 .

中国专利 :CN119584552A ,2025-03-07

[4]

金属薄膜电阻及其制备方法 [P].

林昭宏 ;

黄仁德 .

中国专利 :CN119584552B ,2025-11-07

[5]

一种薄膜电阻、层叠体与薄膜电阻元件 [P].

苏陟 ;

张美娟 ;

周街胜 .

中国专利 :CN117373766A ,2024-01-09

[6]

片上金属薄膜电阻的制备方法 [P].

杨女燕 ;

李建婷 ;

李蓉 ;

颜士义 ;

李东明 .

中国专利 :CN117854864A ,2024-04-09

[7]

一种基于电阻法的金属薄膜厚度测量方法 [P].

潘淼 ;

王锋 ;

徐峰 ;

陈文志 ;

苏建志 ;

吴平辉 ;

谢清来 .

中国专利 :CN112097626A ,2020-12-18

[8]

一种金属薄膜磁敏电阻 [P].

孟庆波 .

中国专利 :CN2446664Y ,2001-09-05

[9]

一种磁敏电阻金属薄膜 [P].

王凤平 ;

潘礼庆 ;

吴平 ;

田跃 ;

邱宏 .

中国专利 :CN1433093A ,2003-07-30

[10]

一种离线监控金属薄膜电阻阻值的方法 [P].

折宇 ;

陈宝忠 ;

刘存生 ;

史泽堃 ;

赵沫沫 ;

赵杰 ;

王成熙 ;

姚晓军 .

中国专利 :CN120854302A ,2025-10-28

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