集成电路及用于测试多TAP集成电路的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200480044449.2

申请日：

2004-11-22

公开(公告)号：

CN101065679B

公开(公告)日：

2007-10-31

发明(设计)人：

约西·阿蒙迪米特里·阿克塞尔罗德埃亚尔·谢尔盖耶

申请人：

申请人地址：

美国得克萨斯

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

陆锦华;黄启行

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-10-31	公开	公开
2017-12-19	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/3185 变更事项:专利权人变更前:飞思卡尔半导体公司变更后:恩智浦美国有限公司变更事项:地址变更前:美国得克萨斯变更后:美国得克萨斯
2007-12-26	实质审查的生效	实质审查的生效
2010-09-01	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路及用于测试集成电路的方法 [P].

克莱夫·大卫·比特尔斯通 .

中国专利 :CN104777414A ,2015-07-15

[2]

集成电路及该集成电路的测试方法 [P].

J·诺勒斯 ;

H·H·菲曼 .

中国专利 :CN1251183A ,2000-04-19

[3]

可测试的集成电路及集成电路的测试方法 [P].

桑迪普库马尔·戈埃尔 ;

何塞德耶稣·皮内达德干维兹 ;

伦泽·I·M·P·迈耶 .

中国专利 :CN101365956A ,2009-02-11

[4]

集成电路和用于测试该集成电路的方法 [P].

C·H·范贝尔克尔 ;

A·M·G·佩特尔斯 .

中国专利 :CN100477522C ,2004-07-21

[5]

集成电路和用于集成电路的方法 [P].

布莱恩·J·卡姆普贝尔 ;

温森特·R·万卡纳尔 ;

格莱格里·S·斯柯特 ;

斯里巴兰·森萨纳姆 ;

丹尼尔·C·穆雷 .

中国专利 :CN102157188B ,2011-08-17

[6]

集成电路以及用于集成电路的方法 [P].

孙俊岳 ;

陈利杰 .

中国专利 :CN103856209B ,2014-06-11

[7]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[8]

集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置 [P].

金范柱 .

中国专利 :CN104422878A ,2015-03-18

[9]

集成电路、集成电路布局结构及形成集成电路的方法 [P].

林孟汉 ;

陈德安 .

中国专利 :CN113130475A ,2021-07-16

[10]

集成电路、集成电路布局结构及形成集成电路的方法 [P].

林孟汉 ;

陈德安 .

中国专利 :CN113130475B ,2025-06-06

← 1 2 3 4 5 →