一种半导体元器件3D检测机

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201920763913.7
申请日
2019-05-26
公开(公告)号
CN210073771U
公开(公告)日
2020-02-14
发明(设计)人
凌永康 杜良辉 孙国标
申请人
申请人地址
214000 江苏省镇江市开发区崇明西路102号
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
H01L21677
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体元器件3D检测机 [P]. 
凌永康 ;
杜良辉 ;
孙国标 .
中国专利 :CN110333244B ,2019-10-15
[2]
一种半导体元器件检测装置 [P]. 
顾亭 ;
李兰珍 ;
陈璟玉 .
中国专利 :CN210159983U ,2020-03-20
[3]
一种半导体元器件检测装置 [P]. 
刘德猛 .
中国专利 :CN207764344U ,2018-08-24
[4]
半导体元器件 [P]. 
曾繁川 ;
苏健泉 ;
戴威亮 .
中国专利 :CN207602548U ,2018-07-10
[5]
一种半导体元器件 [P]. 
张超 ;
张粮佶 ;
张政 ;
王新 .
中国专利 :CN222106703U ,2024-12-03
[6]
一种半导体元器件点胶装置 [P]. 
王辉 ;
李勇 .
中国专利 :CN221656999U ,2024-09-06
[7]
半导体元器件 [P]. 
D·埃泽尔特 ;
S·伊勒克 ;
W·施米德 .
中国专利 :CN101373808B ,2009-02-25
[8]
半导体元器件自动分离机 [P]. 
杨峻松 .
中国专利 :CN101752263A ,2010-06-23
[9]
一种用于半导体元器件测试装置 [P]. 
刘定冕 ;
杨莉莉 .
中国专利 :CN217820681U ,2022-11-15
[10]
一种半导体元器件绝缘测试装置 [P]. 
刘远浩 .
中国专利 :CN214067316U ,2021-08-27