共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种电子元器件的耐高温性检测设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202021973402.7
申请日：
2020-09-10
公开(公告)号：
CN213715336U
公开(公告)日：
2021-07-16
发明(设计)人：
韩越
刘晓星
申请人：
申请人地址：
572000 海南省三亚市崖州湾科技城百泰产业园四号楼621室
IPC主分类号：
G01R3100
IPC分类号：
G01R102
G01R104
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-07-16 | 授权 | 授权 |