用于检测材料的X射线荧光系统和方法以及控制系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780070097.5

申请日：

2017-09-17

公开(公告)号：

CN109997031B

公开(公告)日：

2019-07-09

发明(设计)人：

Y·格罗夫 T·吉斯列夫 N·佑兰 H·阿龙 M·卡普林斯基

申请人：

申请人地址：

以色列亚夫内

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

H01J3502

代理机构：

北京市中伦律师事务所 11410

代理人：

杨黎峰;钟锦舜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20170917
2019-07-09	公开	公开
2022-05-10	授权	授权

共 50 条

[1]

用于X射线荧光系统中的X射线光学元件的调节单元和X射线荧光系统 [P].

布鲁诺·施罗瑟 .

德国专利 :CN118901002A ,2024-11-05

[2]

X射线荧光系统 [P].

B·甘立 ;

J·蒂克纳 .

澳大利亚专利 :CN118202224A ,2024-06-14

[3]

偏振能量色散x射线荧光系统和方法 [P].

陈泽武 ;

魏富忠 ;

J·J·斯皮纳佐拉三世 ;

高志帆 ;

夏耀彪 .

中国专利 :CN117517371A ,2024-02-06

[4]

X射线控制系统 [P].

肖永钦 .

中国专利 :CN109124664A ,2019-01-04

[5]

X射线系统以及用于运行所述X射线系统的方法 [P].

约尔格·弗罗伊登贝格尔 ;

彼得拉·莫雷尔 .

德国专利 :CN111031917B ,2024-01-26

[6]

X射线系统以及用于运行所述X射线系统的方法 [P].

约尔格·弗罗伊登贝格尔 ;

彼得拉·莫雷尔 .

中国专利 :CN111031917A ,2020-04-17

[7]

X射线系统和用于操作X射线系统的方法 [P].

V.泽马内克 ;

B.格斯劳尔 ;

T.泽赫特迈尔 ;

R.冯斯泰恩 ;

F.冯斯泰恩 .

中国专利 :CN107530038B ,2018-01-02

[8]

用于控制便携式X射线系统的系统和方法 [P].

A·M·施米茨 ;

G·B·怀斯 ;

M·D·登维尔 ;

J·W·埃伯哈德 .

中国专利 :CN102755168A ,2012-10-31

[9]

X射线辐射的检测和X射线检测器系统 [P].

E.戈德尔 ;

D.尼德洛纳 ;

M.斯特拉斯伯格 ;

S.沃思 ;

P.哈肯施密德 ;

S.卡普勒 ;

B.克赖斯勒 ;

M.拉巴延德英扎 ;

M.莱因万德 ;

C.施勒特 .

中国专利 :CN104641256B ,2015-05-20

[10]

用于勘探样本的X射线荧光(XRF)分析的方法和系统 [P].

M·林特恩 .

中国专利 :CN109416329A ,2019-03-01

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