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集成电路测试分选机一分多路分类装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110077496.2
申请日
:
2021-01-20
公开(公告)号
:
CN112676180A
公开(公告)日
:
2021-04-20
发明(设计)人
:
吴成君
林强
申请人
:
申请人地址
:
350012 福建省福州市仓山区盖山镇阳岐支路10号1栋4楼
IPC主分类号
:
B07C502
IPC分类号
:
B07C534
B07C536
B07C538
代理机构
:
福州元创专利商标代理有限公司 35100
代理人
:
陈方淮;蔡学俊
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-20
公开
公开
2021-05-07
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/02 申请日:20210120
共 50 条
[1]
集成电路测试分选机分类装置
[P].
吴成君
论文数:
0
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0
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0
吴成君
;
林强
论文数:
0
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0
林强
.
中国专利
:CN214638297U
,2021-11-09
[2]
集成电路测试分选机
[P].
班华
论文数:
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班华
;
王晓军
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王晓军
;
陈涛
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陈涛
.
中国专利
:CN2788907Y
,2006-06-21
[3]
QFN集成电路测试分选机测试单元装置
[P].
王新潮
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王新潮
;
曾坤灿
论文数:
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曾坤灿
;
陈子文
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陈子文
;
沈幸福
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沈幸福
;
丁峰华
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丁峰华
;
李亚峰
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李亚峰
;
徐建春
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徐建春
;
吴忠其
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吴忠其
.
中国专利
:CN201177651Y
,2009-01-07
[4]
集成电路测试分选机自动喂料装置
[P].
吴成君
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吴成君
;
林强
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0
林强
.
中国专利
:CN214638298U
,2021-11-09
[5]
一种集成电路测试分选机
[P].
柯武生
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柯武生
;
王桂桂
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王桂桂
;
黄崇城
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黄崇城
;
张进国
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张进国
.
中国专利
:CN211989793U
,2020-11-24
[6]
一种集成电路测试分选机
[P].
洪彬玉
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0
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洪彬玉
.
中国专利
:CN208527376U
,2019-02-22
[7]
一种集成电路测试分选机
[P].
陈少宽
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陈少宽
;
曾建阳
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曾建阳
;
曾振崇
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曾振崇
.
中国专利
:CN208574974U
,2019-03-05
[8]
一种集成电路测试分选机
[P].
朱远
论文数:
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
朱远
;
郑刚
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
郑刚
;
孙赫然
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
孙赫然
.
中国专利
:CN222394776U
,2025-01-24
[9]
一种集成电路测试分选机
[P].
黄伟华
论文数:
0
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0
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黄伟华
.
中国专利
:CN214184110U
,2021-09-14
[10]
一种集成电路测试分选机
[P].
朱燕华
论文数:
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朱燕华
.
中国专利
:CN113843162A
,2021-12-28
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