集成电路测试分选机一分多路分类装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110077496.2
申请日
2021-01-20
公开(公告)号
CN112676180A
公开(公告)日
2021-04-20
发明(设计)人
吴成君 林强
申请人
申请人地址
350012 福建省福州市仓山区盖山镇阳岐支路10号1栋4楼
IPC主分类号
B07C502
IPC分类号
B07C534 B07C536 B07C538
代理机构
福州元创专利商标代理有限公司 35100
代理人
陈方淮;蔡学俊
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路测试分选机分类装置 [P]. 
吴成君 ;
林强 .
中国专利 :CN214638297U ,2021-11-09
[2]
集成电路测试分选机 [P]. 
班华 ;
王晓军 ;
陈涛 .
中国专利 :CN2788907Y ,2006-06-21
[3]
QFN集成电路测试分选机测试单元装置 [P]. 
王新潮 ;
曾坤灿 ;
陈子文 ;
沈幸福 ;
丁峰华 ;
李亚峰 ;
徐建春 ;
吴忠其 .
中国专利 :CN201177651Y ,2009-01-07
[4]
集成电路测试分选机自动喂料装置 [P]. 
吴成君 ;
林强 .
中国专利 :CN214638298U ,2021-11-09
[5]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
柯武生 ;
王桂桂 ;
黄崇城 ;
张进国 .
中国专利 :CN211989793U ,2020-11-24
[6]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
洪彬玉 .
中国专利 :CN208527376U ,2019-02-22
[7]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
陈少宽 ;
曾建阳 ;
曾振崇 .
中国专利 :CN208574974U ,2019-03-05
[8]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
朱远 ;
郑刚 ;
孙赫然 .
中国专利 :CN222394776U ,2025-01-24
[9]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
黄伟华 .
中国专利 :CN214184110U ,2021-09-14
[10]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
朱燕华 .
中国专利 :CN113843162A ,2021-12-28