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一种集成电路测试分选机
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111041916.8
申请日
:
2021-09-07
公开(公告)号
:
CN113843162A
公开(公告)日
:
2021-12-28
发明(设计)人
:
朱燕华
申请人
:
申请人地址
:
312000 浙江省绍兴市诸暨市西施大街98号军杰信息
IPC主分类号
:
B07C502
IPC分类号
:
B07C506
B07C536
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/02 申请日:20210907
2021-12-28
公开
公开
共 50 条
[1]
一种集成电路测试分选机
[P].
黄伟华
论文数:
0
引用数:
0
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0
黄伟华
.
中国专利
:CN214184110U
,2021-09-14
[2]
一种集成电路测试分选机
[P].
谢飞
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢飞
.
中国专利
:CN113843187A
,2021-12-28
[3]
集成电路测试分选机
[P].
班华
论文数:
0
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0
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0
班华
;
王晓军
论文数:
0
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0
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0
王晓军
;
陈涛
论文数:
0
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0
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0
陈涛
.
中国专利
:CN2788907Y
,2006-06-21
[4]
一种集成电路测试分选机
[P].
柯武生
论文数:
0
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0
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柯武生
;
王桂桂
论文数:
0
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王桂桂
;
黄崇城
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黄崇城
;
张进国
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张进国
.
中国专利
:CN211989793U
,2020-11-24
[5]
一种集成电路测试分选机
[P].
洪彬玉
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0
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洪彬玉
.
中国专利
:CN208527376U
,2019-02-22
[6]
一种集成电路测试分选机
[P].
陈少宽
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陈少宽
;
曾建阳
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曾建阳
;
曾振崇
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曾振崇
.
中国专利
:CN208574974U
,2019-03-05
[7]
一种集成电路测试分选机
[P].
朱远
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
朱远
;
郑刚
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
郑刚
;
孙赫然
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0
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
孙赫然
.
中国专利
:CN222394776U
,2025-01-24
[8]
一种集成电路测试分选机
[P].
谢银泉
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0
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0
谢银泉
.
中国专利
:CN108311419B
,2018-07-24
[9]
一种集成电路测试分选机的测试工装
[P].
吴龙军
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机构:
徐州领测半导体科技有限公司
徐州领测半导体科技有限公司
吴龙军
.
中国专利
:CN117563966A
,2024-02-20
[10]
集成电路测试分选机分类装置
[P].
吴成君
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吴成君
;
林强
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林强
.
中国专利
:CN214638297U
,2021-11-09
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