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一种集成电路测试分选机的测试工装
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311539677.8
申请日
:
2023-11-18
公开(公告)号
:
CN117563966A
公开(公告)日
:
2024-02-20
发明(设计)人
:
吴龙军
申请人
:
徐州领测半导体科技有限公司
申请人地址
:
221400 江苏省徐州市新沂市锡沂高新区一带一路智慧光电产业园14#标房
IPC主分类号
:
B07C5/34
IPC分类号
:
B07C5/36
B07C5/02
代理机构
:
东台金诚石专利代理事务所(特殊普通合伙) 32482
代理人
:
刘秀军
法律状态
:
公开
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-20
公开
公开
2024-09-17
发明专利申请公布后的撤回
发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):B07C 5/34申请公布日:20240220
共 50 条
[1]
集成电路测试分选机
[P].
班华
论文数:
0
引用数:
0
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0
班华
;
王晓军
论文数:
0
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0
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0
王晓军
;
陈涛
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈涛
.
中国专利
:CN2788907Y
,2006-06-21
[2]
一种集成电路测试分选机
[P].
黄伟华
论文数:
0
引用数:
0
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0
黄伟华
.
中国专利
:CN214184110U
,2021-09-14
[3]
一种集成电路测试分选机
[P].
朱燕华
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱燕华
.
中国专利
:CN113843162A
,2021-12-28
[4]
一种集成电路测试分选机
[P].
谢飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢飞
.
中国专利
:CN113843187A
,2021-12-28
[5]
一种集成电路测试分选机
[P].
柯武生
论文数:
0
引用数:
0
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柯武生
;
王桂桂
论文数:
0
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王桂桂
;
黄崇城
论文数:
0
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0
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0
黄崇城
;
张进国
论文数:
0
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0
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0
张进国
.
中国专利
:CN211989793U
,2020-11-24
[6]
一种集成电路测试分选机
[P].
洪彬玉
论文数:
0
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0
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0
洪彬玉
.
中国专利
:CN208527376U
,2019-02-22
[7]
一种集成电路测试分选机
[P].
陈少宽
论文数:
0
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0
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陈少宽
;
曾建阳
论文数:
0
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曾建阳
;
曾振崇
论文数:
0
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0
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0
曾振崇
.
中国专利
:CN208574974U
,2019-03-05
[8]
一种集成电路测试分选机
[P].
朱远
论文数:
0
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0
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
朱远
;
郑刚
论文数:
0
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
郑刚
;
孙赫然
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
孙赫然
.
中国专利
:CN222394776U
,2025-01-24
[9]
一种集成电路测试分选机
[P].
谢银泉
论文数:
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0
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0
谢银泉
.
中国专利
:CN108311419B
,2018-07-24
[10]
一种集成电路测试分选机的测试夹具
[P].
张华康
论文数:
0
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0
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0
张华康
.
中国专利
:CN218213096U
,2023-01-03
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