一种集成电路测试分选机

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810086307.6
申请日
2018-01-30
公开(公告)号
CN108311419B
公开(公告)日
2018-07-24
发明(设计)人
谢银泉
申请人
申请人地址
362103 福建省泉州市惠安县辋川镇辋川街273号
IPC主分类号
B07C5344
IPC分类号
B07C502 B07C536
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
柯武生 ;
王桂桂 ;
黄崇城 ;
张进国 .
中国专利 :CN211989793U ,2020-11-24
[2]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
陈少宽 ;
曾建阳 ;
曾振崇 .
中国专利 :CN208574974U ,2019-03-05
[3]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
朱远 ;
郑刚 ;
孙赫然 .
中国专利 :CN222394776U ,2025-01-24
[4]
集成电路测试分选机 [P]. 
班华 ;
王晓军 ;
陈涛 .
中国专利 :CN2788907Y ,2006-06-21
[5]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
洪彬玉 .
中国专利 :CN208527376U ,2019-02-22
[6]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
黄伟华 .
中国专利 :CN214184110U ,2021-09-14
[7]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
朱燕华 .
中国专利 :CN113843162A ,2021-12-28
[8]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
谢飞 .
中国专利 :CN113843187A ,2021-12-28
[9]
集成电路测试分选机分类装置 [P]. 
吴成君 ;
林强 .
中国专利 :CN214638297U ,2021-11-09
[10]
一种集成电路测试分选机的测试夹具 [P]. 
张华康 .
中国专利 :CN218213096U ,2023-01-03